一种安全可控的SoC可测性设计
王新成，孙宏，蔡吉仁，杨义先
北京邮电大学 信息安全中心，北京 100876
2007-08-28
摘要：提出了一种安全可控的可测性设计DFT（Design For Test）。DFT既能够完成对SoC的测试，又能保障SoC自身敏感信息和关键技术的安全。
关键词：可测性设计 集成电路 微系统芯片
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