新闻发布– 2017年6月5日– NI(美国国家仪器公司，National Instruments，简称NI) 作为致力于为工程师和科学家提供解决方案来应对全球最严峻的工程挑战的供应商，今日宣布将在夏威夷檀香山举行的2017国际微波会议(IMS)上展示一项准5G波形发生和测量技术。 该展示将包含代表Verizon 5G技术论坛(5GTF)和3GPP提出的新无线电(New Radio, NR)物理层波形的信号生成和分析。

这一技术展示将使用1 GHz带宽的PXIe-5840第二代矢量信号收发仪(VST)与用于波形调制和解调的准5G软件。波形调制的关键特征包括支持离散傅里叶变换扩展正交频分复用(DFT-S-OFDM)和正交频分多址(OFDMA)以及支持3GPP 5G NR和Verizon 5GTF规范的灵活子载波间隔和分量载波配置，总带宽为1 GHz。该演示支持高达256-QAM的调制类型，测量结果包含功率、相邻信道功率和误差矢量幅度。 该演示的典型应用包括RF功率放大器、前端模块和收发器等RFIC的测试。

NI无线设计和测试副总裁Charles Schroeder：“NI以软件为中心的测试测量方法可允许PXI测试系统随着软件的更新速度进行更新。 借助这种方法，工程师可以使用当前用于测试LTE-A和LTE-A Pro产品的VST测试系统来测试未来的5G产品。”

NI的新5G测试技术与其广泛的RF和无线测试产品系列相得益彰，新的软件进一步完善了现有的802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax,、蓝牙GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS测试解决方案。 NI的RF和无线智能测试系统基于NI先进的VST技术，可帮助工程师降低测试成本。 这些测试系统将受益于从直流到毫米波等不同工作频率范围的600多个PXI产品。它们采用PCI Express第三代总线接口，具有高吞吐量数据移动，同时具有亚纳秒级同步以及集成的定时和触发。 LabVIEW和TestStand软件环境的高效生产力，以及一个由合作伙伴、附加IP和应用工程师组成的充满活力的生态系统，可帮助用户大幅降低测试成本，缩短上市时间，开发面向未来的测试设备来应对未来的种种挑战。

如需了解更多关于VST的信息，请访问www.ni.com/vst/。