基于IEEE P1500芯核测试控制结构设计AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于IEEE P1500芯核测试控制结构设计
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：358 K

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文档介绍：讨论了IEEE P1500测试架构，详细分析并实现了IP核的测试环（Wrapper）结构，给出了一种支持该标准的芯片级测试控制结构。该结构能控制基于总线结构的 TAM以及P1500 Wrapper，通过芯片级CTAP控制器，支持串行或并行测试访问，实现了核内测试以及核间互连测试。同时该结构只需5根额外测试管脚。
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