基于广义特征分析与边界扫描技术的混合信号测试系统AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于广义特征分析与边界扫描技术的混合信号测试系统
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：295 K

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文档介绍：分析了用于模数混合电路的边界扫描测试技术的工作机制对测试主控系统的功能需求，提出了一种基于微机的符合IEEE1149.4标准的混合信号边界扫描测试主控系统。所采用的广义特征分析法利用库函数映射的思想，将传统的各种故障字典进行统一描述。实践证明，该方法对模数混合电路的测试是行之有效的。
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