| 使用吉时利最新3732型高密度矩阵卡进行低电平接触电阻(LLCR)针脚插槽测试 | |
| 所属分类：解决方案 | |
| 上传者：keithley | |
| 文档大小：1145 K | |
| 所需积分：0分积分不够怎么办？ | |
| 文档介绍：吉时利最新3732型超高密度、高速干簧式继电器矩阵开关，完美搭配其3700系列数 据采集系统，充分满足高密度连接的多样化需求。 如今的计算机处理器（CPU）比以往的计算机处理器有很大进步。现在的CPU比从前 需要更高的功率，更低的工作电压以及拥有更多的针脚。同时，它们还能直接插入 CPU插槽，无需焊接。由于拉电流很大，如果CPU和插槽的接触电阻过大就会产生较 大的压降和热量，使CPU无法正常工作。因此，关键要让接触电阻值最小。为了达 到这一要求，必须全面测试插槽。测试插槽通常采用低电平接触电阻（LLCR）测试 的形式。 在LLCR测试中，使用低电平信号测量一组触点的电阻值。在测试中，向被测触点组 施加1nA~100mA范围的电流并测量产生的压降。由于这些触点的电阻值很小，所产 生的压降通常也很小（在微伏范围内），因此需要高质量电压表才能获取准确读 数。 LLCR测试在CPU插槽上进行：在插槽上插入内插板然后测量插槽中各组针脚之间的 电阻值。内插板建立了经过多个触点的通路，因此测量的电阻值是各个针脚的接触 电阻之和。然后，总的接触电阻值除以通路上的触点数量即为接触电阻平均值。期 望的接触电阻典型值低于17~20mΩ/触点。 | |
| 现在下载 | |
| VIP会员，AET专家下载不扣分；重复下载不扣分，本人上传资源不扣分。 | |
Copyright © 2005-2024 华北计算机系统工程研究所版权所有 京ICP备10017138号-2