《电子技术应用》
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碲锌镉探测器读出芯片的测试系统设计
电子技术应用
代天军1,刘华围1,周镱1,周章渝1,吴宗桂2
1.贵阳学院 电子信息工程学院;2.北京威志微电子科技有限公司
摘要: 针对碲锌镉(CZT)探测器的信号读出芯片的功能测试需求,以Cyclone IV系列现场可编程门阵列(FPGA)为控制核心,设计了一种CZT探测器读出芯片测试系统,包括硬件电路设计、FPGA控制逻辑、上位机等模块设计。测试结果显示:可通过上位机完成芯片寄存器192 bit功能配置,芯片非线性误差为1.8 %,4个模拟信号增益功能正常,表明设计的芯片测试系统功能正确。所提出的芯片测试系统也为其他探测器相关专用信号处理芯片的测试提供了重要参考。
中图分类号:TN407 文献标志码:A DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.267799
中文引用格式: 代天军,刘华围,周镱,等. 碲锌镉探测器读出芯片的测试系统设计[J]. 电子技术应用,2026,52(10):100-105.
英文引用格式: Dai Tianjun,Liu Huawei,Zhou Yi,et al. Construction of a readout chip test system for CZT detector[J]. Application of Electronic Technique,2026,52(10):100-105.
Construction of a readout chip test system for CZT detector
Dai Tianjun1,Liu Huawei1,Zhou Yi1,Zhou Zhangyu1,Wu Zonggui2
1.School of Electronic and Information Engineering, Guiyang University;2.Beijing Weizhi Microelectronics Technology Co., Ltd.
Abstract: To fulfill the functional testing requirements for signal readout chips of Cadmium Zinc Telluride (CZT) detectors, a test system for CZT detector readout chips has been developed with the Cyclone IV series Field-Programmable Gate Array (FPGA) serving as the control core, encompassing hardware circuits, FPGA control logic, and an upper-computer interface module. The results show that the system can successfully configure the 192-bit register functionality of the chip via the upper-computer interface. The measured nonlinearity error of the chip is 1.8%, and all four analog signal gain functions operate correctly, confirming the proper functionality of the designed chip testing system. The chip testing system proposed in this paper also provides a valuable reference for other detector-specific signal processing integrated circuits.
Key words : CZT detector;hardware circuit;FPGA;host computer;system testing

引言

碲锌镉(CZT)半导体探测器作为室温核辐射探测器件,凭借其优异的能量分辨率和本征探测效率,在核物理测量、医学影像(如PET/CT)、国防安检(爆炸物同位素识别)等领域展现出巨大的应用价值[1]。与传统碲镉(CdTe)探测器相比,CZT晶体的载流子迁移率-寿命乘积(μτ)更高、禁带更宽、漏电流更小以及能量分辨率更高[2],这使其在便携式设备与空间探测领域具有显著优势。

专用集成电路(ASIC)作为CZT探测器的核心读出部件,对探测器系统级应用的最终性能起着关键作用。北京粒子与辐射成像教育部重点实验室完成了一种基于180 nm CMOS工艺的CZT探测器像素读出ASIC原型的研制[3],该芯片在X射线光谱成像应用中噪声性能良好。针对传统X射线探测的多通道电荷读出电路面积大、功耗高的问题,中国科学院提出一种新型的多通道电荷读出电路结构[4],该芯片通过将采样保持电路和相关双采样集成到输出缓冲器,大大地降低了整体芯片的功耗和面积。意大利的研究团队针对CZT晶体的线性阵列像素探测器,开发出快速低噪声电荷灵敏放大器[5],在能量分辨率上获得了很好的效果。在科研项目的支持下,本课题组自研出应用于CZT的辐射探测ASIC芯片(GYFX16),芯片共17通路,其中16通路用于CZT阳极信号的读出,1通路用于CZT阴极信号的读出,该芯片集成电荷灵敏放大器、快慢成形电路、模数转换(ADC)及时间数字转换器(TDC)等功能模块,支持全局成形时间、增益参数配置及单通道基线补偿。

基于单片机的ASIC测试系统受时钟频率限制[6],无法满足芯片高频时序要求,传统ASIC测试平台因固定逻辑架构,难以适配芯片可配置参数的动态调整需求;多通道数据采集时跨时钟域传输抖动会导致能量谱峰展宽,影响测量精度。现场可编程门阵列[7](FPGA)凭借其亚纳秒级内部延时、400 MHz以上时钟管理能力及可重构逻辑资源,成为解决上述问题的理想选择。基于ALTERA的Cyclone IV[8]系列FPGA(EP4CE10F17C8N)集成PLL锁相环,可实现±0.1%频率精度的时钟,嵌入式异步FIFO模块支持200 MHz数据缓存,其硬件描述语言可编程特性为定制化时序控制提供了灵活解决方案。

本文研究面向CZT探测器读出芯片GYFX16的测试需求,构建基于FPGA的芯片测试系统:(1)使用MATLAB完成测试系统的PC上位机设计,实现数据的配置与显示;(2)基于FPGA实现配置寄存器时序信号的精度控制,满足GYFX16芯片配置寄存器模块的时序同步功能;(3)芯片的增益档位调节和线性度实测结果验证了所设计系统可实现GYFX16芯片的测试及控制。


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作者信息:

代天军1,刘华围1,周镱1,周章渝1,吴宗桂2

(1.贵阳学院 电子信息工程学院,贵州 贵阳 550005;

2.北京威志微电子科技有限公司,北京 100085)

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