中文引用格式: 代天军,刘华围,周镱,等. 碲锌镉探测器读出芯片的测试系统设计[J]. 电子技术应用,2026,52(10):100-105.
英文引用格式: Dai Tianjun,Liu Huawei,Zhou Yi,et al. Construction of a readout chip test system for CZT detector[J]. Application of Electronic Technique,2026,52(10):100-105.
引言
碲锌镉(CZT)半导体探测器作为室温核辐射探测器件,凭借其优异的能量分辨率和本征探测效率,在核物理测量、医学影像(如PET/CT)、国防安检(爆炸物同位素识别)等领域展现出巨大的应用价值[1]。与传统碲镉(CdTe)探测器相比,CZT晶体的载流子迁移率-寿命乘积(μτ)更高、禁带更宽、漏电流更小以及能量分辨率更高[2],这使其在便携式设备与空间探测领域具有显著优势。
专用集成电路(ASIC)作为CZT探测器的核心读出部件,对探测器系统级应用的最终性能起着关键作用。北京粒子与辐射成像教育部重点实验室完成了一种基于180 nm CMOS工艺的CZT探测器像素读出ASIC原型的研制[3],该芯片在X射线光谱成像应用中噪声性能良好。针对传统X射线探测的多通道电荷读出电路面积大、功耗高的问题,中国科学院提出一种新型的多通道电荷读出电路结构[4],该芯片通过将采样保持电路和相关双采样集成到输出缓冲器,大大地降低了整体芯片的功耗和面积。意大利的研究团队针对CZT晶体的线性阵列像素探测器,开发出快速低噪声电荷灵敏放大器[5],在能量分辨率上获得了很好的效果。在科研项目的支持下,本课题组自研出应用于CZT的辐射探测ASIC芯片(GYFX16),芯片共17通路,其中16通路用于CZT阳极信号的读出,1通路用于CZT阴极信号的读出,该芯片集成电荷灵敏放大器、快慢成形电路、模数转换(ADC)及时间数字转换器(TDC)等功能模块,支持全局成形时间、增益参数配置及单通道基线补偿。
基于单片机的ASIC测试系统受时钟频率限制[6],无法满足芯片高频时序要求,传统ASIC测试平台因固定逻辑架构,难以适配芯片可配置参数的动态调整需求;多通道数据采集时跨时钟域传输抖动会导致能量谱峰展宽,影响测量精度。现场可编程门阵列[7](FPGA)凭借其亚纳秒级内部延时、400 MHz以上时钟管理能力及可重构逻辑资源,成为解决上述问题的理想选择。基于ALTERA的Cyclone IV[8]系列FPGA(EP4CE10F17C8N)集成PLL锁相环,可实现±0.1%频率精度的时钟,嵌入式异步FIFO模块支持200 MHz数据缓存,其硬件描述语言可编程特性为定制化时序控制提供了灵活解决方案。
本文研究面向CZT探测器读出芯片GYFX16的测试需求,构建基于FPGA的芯片测试系统:(1)使用MATLAB完成测试系统的PC上位机设计,实现数据的配置与显示;(2)基于FPGA实现配置寄存器时序信号的精度控制,满足GYFX16芯片配置寄存器模块的时序同步功能;(3)芯片的增益档位调节和线性度实测结果验证了所设计系统可实现GYFX16芯片的测试及控制。
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作者信息:
代天军1,刘华围1,周镱1,周章渝1,吴宗桂2
(1.贵阳学院 电子信息工程学院,贵州 贵阳 550005;
2.北京威志微电子科技有限公司,北京 100085)

