随着现场可编程门阵列(FPGA)芯片在商业、军事、航空航天等领域的广泛应用，其可靠性和可测试性显得尤为重要。对设计人员来说，FPGA的使用相当灵活。然而，正是这种应用的不确定性和重复可编程性，增加了芯片的测试难度。其核心问题是建立什么样的测试模型才能使故障激活。根据需求，FPGA的测试大体可分为面向制造的测试过程(MTP)和面向应用的测试过程（ATP）两类。MTP主要是从制造商的角度来测试，ATP是在应用级上的测试，也就是把FPGA配置为特定的功能进行测试，具有很强的针对性[1]。本文介绍ATP测试中SPI Master 模型的建立。在测试FPGA设计的集成电路时，对设计电路的性能进行实时测试是必不可少的环节[2]。这就需要设计一种接口电路，将测试数据送入设计电路。
1 SPI总线协议介绍
    SPI(Serion Perpheral Interface)[3]是一种高速的、全双工、同步的通信总线，并且在芯片的管脚上只占用4根线，节约了芯片的管脚，同时为PCB的布局节省空间，提供方便，正是出于这种简单易用的特性，越来越多的芯片集成了这种通信协议。SPI的通信原理很简单，它以主从方式工作，这种模式通常有一个主设备和一个或多个从设备，需要至少4根线，事实上3根也可以（用于单向传输时，也就是半双工方式）。也是所有基于SPI的设备共有，分别是MISO(数据输入)，MOSI(数据输出)，SCK（时钟），NSS（片选），如图1所示。

    (1)MOSI：主设备数据输出，从设备数据输入。
    (2)MISO：主设备数据输入，从设备数据输出。
    (3)SCK：时钟信号，由主设备产生。
    (4)NSS：从设备使能信号，由主设备控制。
    使能信号低电平有效，当使能信号为低电平时，输出数据（MOSI）在串行时钟(SCK)下降沿变化，输入数据（MISO）在(SCK)上升沿变化。
2 SPI Master原理
    本文介绍的基于FPGA的、可配置的SPI Master接口设计，能满足测试的各种正常、异常以及强度测试要求。此SPI接口模块可设置为单次发送、循环发送（发送间隔可设）；发送数据长度可变；串行时钟线（SCK）与输出数据线（MOSI）时序关系可变；串行时钟线（SCK）与使能信号（NSS）时序关系可变。
    一般情况下，为了SPI数据发送的灵活性，SPI发送次数及发送间隔是由软件实现的,当需要循环发送且发送间隔达到微秒甚至纳秒数量级时，软件很难实现。本文将SPI发送次数以及发送间隔集成到SPI Master模块中，使SPI发送间隔可变且最小为一个SCK周期。按照SPI总线协议设计的SPI Master输出数据（MOSI）在串行时钟(SCK)下降沿变化,不能进行异常时序测试，而异常时序在FPGA[4，5]的接口测试中又最为重要，故本文利用触发器特性设计电路，使SPI发送数据时序可变，精度为1个系统时钟周期。
3 SPI Master 模块结构图
    SPI Master模块由Bram接口、配置寄存器、控制器三部分组成，如图2所示。此模块系统时钟为100 MHz。
    BRAM接口：控制配置参数以及SPI数据的读写配置参数及SPI数据在BRAM中存储结构如表1所示。

    控制器：解析配置寄存器，产生发送时序，控制BRAM接口进行数据读写。
    对配置寄存器说明如下。
    (1)循环发送标识寄存器：1 bit，高电平标识循环发送，低电平标识单次发送。
    (2)循环发送次数寄存器：15 bit，若循环发送标识为高电平时，此寄存器值为要发送的数据长度，单位：B；发送模块中包含一发送次数计数器，NSS从高电平变为低电平，发送次数计数器加1。
    (3)循环发送间隔寄存器：16 bit，若循环发送标识为高电平时，此寄存器值为每两次发送间隔，单位：10 ns。(最小间隔为1个SCK周期，若小于1个SCK周期,则从设备不能检测到NSS信号变化)，发送模块中包含1个发送间隔计数器，从一次SPI发送结束开始计数，直到与循环发送间隔寄存器中值相等，启动下次发送。
    (4)SCK频率寄存器：16 bit，此寄存器值表示串行时钟SCK周期，单位为10 ns(系统时钟为100 MHz，精度为20 ns)；时序模块中包含一分频模块，SCK周期=(SCK频率寄存器)×10 ns。
    (5)MOSI时序寄存器：8 bit，此寄存器值表示MOSI变化与SCK下降沿间隔时间，单位：10 ns(系统时钟为100 MHz，因此最小间隔为10 ns)。
    (6)数据长度寄存器：16 bit，此寄存器值表示要发送数据的长度，单位：B。
    (7)NSS时序寄存器：8 bit，此寄存器值表示NSS变化与SCK下降沿间隔时间，单位：10 ns(系统时钟为100 MHz，因此最小间隔为10 ns)。
4 SPI Master模块功能介绍
    (1)SPI循环发送次数可变，范围：1～32 767；(2)SPI数据发送长度可变，范围：1～65 535，单位：B；(3)SPI循环发送间隔可变，范围：(1个SCK周期)～(65 536×10 ns)，实现了连续发送,即一次SPI发送结束后下一SCK时钟立即启动下次SPI发送；(4)MOSI与SCK时序关系可变，NSS与SCK时序关系可变，SPI总线为下降沿发送，上升沿接收，故MOSI、NSS在SCK下降沿后半个周期可调即可。
    SPI功能流程如图3所示，FPGA上电复位后不断检测SPI_start信号，当SPI_start信号有效时（高电平）启动SPI发送，读取BRAM中的配置参数，进行译码，依据译码后数据长度值读取BRAM中数据，按照SPI协议发送数据；完成一次SPI发送后判断是否为循环发送，若为循环发送则启动下一次SPI发送，直到发送次数等于循环发送次数寄存器值，其中发送间隔由循环发送间隔寄存器值决定。

4.1 单次发送（正常时序）
    SPI Master控制器检测到SPI_start信号有效，即控制Bram接口读取配置参数，经译码后若循环发送标识寄存器为低电平,则配合发送长度寄存器读取BRAM中数据，并进行发送。
4.2 单次发送（异常时序）
    MOSI异常时序：正常情况下MOSI在SCK下降沿变化，此设计采用一带抽头的序列寄存器产生异常时序，如图4。

    每增加一个触发器，延时增加一个系统时钟[6]，多路开关依据MOSI时序寄存器中值选择相应触发器输出，产生异常时序，举例说明如图5。

    图5中sys_clk为系统时钟频率100 MHz，NSS为使能信号；MOSI为串行输出信号；当SCK频率寄存器为10时，SPI串行时钟SCK周期=(SCK频率寄存器)×10 ns=100 ns，即SCK频率为10 MHz；当MOSI时序寄存器值为4时，MOSI在SCK下降沿后4个sys_clk开始变化。
4.3 循环发送（时序正常）
      每完成一次SPI发送，发送次数计数器加1，当发送次数计数器中的值与循环发送次数寄存器中值相等时，完成循环发送。发送次数由循环发送次数寄存器值决定，循环发送间隔由发送间隔计数器决定。
4.4 循环发送（时序异常）
      类似循环发送(正常时序)，异常时序产生类似单次发送（异常时序）。
    实现的目标器件是Xilinx的Virtex2 pro开发板。本文已应用于中国科学院光电研究院测试平台中，实现了SPI接口以及与其功能相关的的测试。
    与同类SPI Master相比，发送间隔可变、精度高，最小间隔仅为1个SCK时钟周期；发送时序可变，精度高，为1个系统时钟周期；基本满足正常、异常以及强度等测试要求。
参考文献
[1] 唐恒标，冯建华，冯建科.基于测试系统的FPGA逻辑资源的测试[J]，微电子学，2006(6).
[2] (美)伯杰龙(Bergeron，J.)著，编写测试平台：HDL模型的功能验证（第二版）[M]，张春等译.北京：电子工业出版社，2006.
[3] 孙晓云.接口与通信技术原理与应用[M].北京：中国电力出版社，2007.
[4] 李云松.Xilinx FPGA设计基础[M].西安：西安电子科技大学出版社，2008.
[5] 薛小刚，葛毅敏.Xilinx ISE 9.X FPGA/CPLD设计指南[M]. 北京：人民邮电出版社，2007.
[6] 夏宇文.Verilog数字系统设计教程[M].北京：北京航空航天大学出版社，2008.