头条 2025Q3数据中心GPU出货环比暴增145% 11 月 25 日消息，机构 Jon Peddie Research (JPR) 当地时间昨日表示，根据其 2025Q3 市场观察报告，上季度全球数据中心 GPU 出货规模环比增幅达 145%，而 PC GPU（含独显与核显）出货则呈现温和增长态势，环比 +2.5%、同比 +4%。 最新资讯 差分信号-生存法则 差分信号有几个优点，它们中的三个是（a）与电源系统有效隔离，（b）对噪声免疫，和（c）增强信噪比。与电源系统（特别是系统地）隔离依赖于差分线上的信号真正地大小相等且极性相反。这个假定也许不成立，如果差分对中单个线长不完全匹配。对噪声的免疫经常依赖于走线的紧耦合。这将依次影响到为防止反射而对走线进行正确的端接的值，以及如果走线必须紧耦合，通常也是需要的，它们的间距必须全线为常数。 发表于：1/19/2010 Maxim推出集成振荡器的微型SPI/I²C UART Maxim推出业内功耗最低、速度最快、尺寸最小的SPI™/I²C接口通信的串行UART。MAX3107的功耗极低，可有效延长便携式设备的电池使用寿命。器件较高的数据速率(24Mbps)和较大空间的FIFO (128字)能够提供额外的缓冲，从而减轻系统微控制器的负担。MAX3107采用节省空间的24引脚(3.5mm x 3.5mm) TQFN封装，比目前市场上的其它串行UART小24%。MAX3107还是业内首款集成振荡器的UART，可使BOM成本平均降低20%。MAX3107非常适合需要高速PROFIBUS DP通信协议的工业现场总线以及低功耗手持式消费类MID (移动网络设备)应用。 发表于：1/18/2010 利用无线传感器网络提高地质灾害监测能力 无线传感器网络作为一项较新的技术，以其特有的能力可以解决日常生活中很多问题，本文结合作者专业所及为汶川大?震类似的地质灾害监测提供一种采用新技术来提高监测能力的设想。 发表于：1/18/2010 应用MAX264设计程控滤波器 ：本设计应用集成芯片MAX264设计一个程控滤波器。该滤波器主要由3个模块组成：前置放大、滤波电路、单片机显示与控制电路等。前置放大采用集成运放AD620构成；滤波器采用MAX264。然后利用单片机对MAX264编程，实现低通、高通及椭圆滤波器。通过测试达到了以下要求：输入正弦电压振幅为10 mV时，总增益为40 dB，通频带为100 Hz～ 40 kHz，；低通和高通滤波器，其一3 dB截止频率fc在1～ 20 kHz范围内可调，频率步进为1 kHz，低通在2 处总电压增益不大于30 dB；高通在0．5 处总电压增益不大于30 dB；四阶椭圆型低通滤波器，带内起伏≤ 1 dB，一3 dB通带为50 kHz，一3 dB通带误差不大于5 。 发表于：1/18/2010 德州仪器模拟技术冬令营圆满结束 近日，旨在提高大学生模拟技术知识水平、培养大学生电子设计创新能力的2009德州仪器模拟技术大学生冬令营在上海交通大学圆满结束。来自全国8个省市、在2009年大学生电子设计竞赛省市级TI杯中取得优异成绩的62名学生代表汇聚一堂，共同度过了为期四天、丰富多彩的冬令营生活。 发表于：1/15/2010 “物联网”概念兴起 智能卡又临机遇 今年第三季度末，一个被称之为“物联网”的概念突然兴起。随之，一些相关的标志性事件也如雨后春笋般相继而起。2009年9月中旬，中国的资本市场——上证A股新增“物联网概念”板块。接着，中国第一家命名为“中国物联网”的互联网站建立。随后，中国第一家物联网杂志诞生并与相关媒体联合主办物联网技术应用研讨培训。 发表于：1/15/2010 磁性传感器IC的特性与使用方法 磁性传感器能够检测出磁场的强度（大小）和方向。近年来，磁性传感器IC已取代了机械开关被广泛应用。特别是手机和电脑的开闭检测，白色家电的开闭检测，定位检测中，使用频率就很高。村田制作所制造的磁性开关传感器IC（AS系列）是将AMR *1单体和驱动电路一体化的一种磁性传感器。本文将以此产品为例，详述磁性传感器的特性，特征和使用方法等。 发表于：1/14/2010 物联网概念是炒作 离产业化还很远 那些在私募界已经脱颖而出的多位阳光私募基金经理对CBN记者称，本周兴起的“物联网概念”炒作热潮是一部分强势资金运作的结果，远看似乎很热闹，却不适合阳光私募基金重仓参与，因为即使你去“远望”也无法发现有业绩的“新大陆”，“物联网”离产业化还很远。 发表于：1/14/2010 测量RF PA和手机的直流偏置电流 在移动电话市场上，手机电池寿命是一项任何客户都容易评估的技术指标。不足的电池寿命会招致用户的不满。因此，在设计手机及其关键部件时，通过降低功耗来延长电池寿命是重要的设计考虑。 发表于：1/14/2010 RF和微波开关测试系统中的关键问题 讨论了射频和微波开关测试系统中的关键问题，包括不同的开关种类，RF开关卡规格，和有助于测试工程师提高测试吞吐量并降低测试成本的RF开关设计中需要考虑的问题。 发表于：1/14/2010 «…5328532953305331533253335334533553365337…»
