第12届中国国际半导体博览会暨高峰论坛(简称IC China2014)及同期活动将于2014年10月28-30日在上海新国际博览中心隆重开幕。届时，胜科纳米(苏州)有限公司（简称：胜科纳米）将携带其最先进的材料分析和失效分析技术亮相本次展会。

胜科纳米(苏州)有限公司成立于2012年8月，位于苏州工业园区中新生态科技城。公司配备全套高端 材料分析及失效分析设备，包括高分辨透射电子显微镜（HRTEM）、 双束聚焦离子束系统( Dual Beam FIB) 、场发射扫描电子显微镜(FESEM) 、飞行时间 二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)、X射线光电子能谱仪（XPS/ESCA）等。

去年11月，苏州胜科携驱动芯片技术服务亮相2013高工LED展。在谈到时下最热门的智能硬件时，胜科纳米的市场总监傅超称，智能化必须从IC芯片的材料、线路等各个方面进行改进，这也直接推动了芯片方案提供商的市场渗透率。

傅超认为，驱动芯片的材料成分与结构在很大程度上决定了材料的特性，尤其是微观尺度下，材料表面和界面的成分与结构对材料的特性起着关键性作用。而胜科纳米拥有多种以表面分析为代表的材料表征手段, 可以实现高灵敏度、高精度、定量或半定量的表面分析，能广泛应用于研究分析亚微米和纳米级的表面缺陷。

傅超称，“随着目前半导体相关产业的设计及工艺不断发展，相关的结构及材料分析将趋向于更高端更精密的分析领域发展。同时第三方分析实验室在提供单项分析服务的同时，需要不断增强其提供全方位、全套分析服务及相关设计方案的能力。”

超前思维独创高技术含量分析手段

胜科纳米坚信只有优质的产品和良好的服务才能让企业可以直面困难和挑战。当然 ，还需要借助广大的媒体和宣传网络，才能打开更广大的施展空间。随着世界经济的复苏和国家扩大内需及智能电子差产品引领着人们生活方式的改变，电子生产设备和电子制造行业引来了新的发展机遇，胜科纳米必将抓住机遇，再上新的台阶。

胜科纳米马敏称，公司拥有超前思维且独创出多项高技术含量的分析手段；对在每一个分析案例中都主动与客户交流，确保分析结果的准确度；对于每一个案例都实行全程跟踪并全权负责制。

胜科纳米自2012年进入园区以来，已为园区的高科技企业提供优质的分析服务，成功地帮助企业解决多个困扰已久的产品失效、工艺异常等问题，为企业提高产品良率、节约生产成本提供了强大的技术支持。

胜科纳米在中国大事记 
2012年8月 胜科纳米苏州公司成立 
2013年3月 胜科纳米参展SEMICON China 2013 
2013年5月 胜科纳米参展苏州电路板展 
2013年9月 胜科纳米参加“Chinano 2013中国国际纳米技术产业发展论坛暨纳米技术成果展” 
2013年11月 胜科纳米亮相航空无损检测领域 
2014年2月 胜科纳米公司到中科院宁波材料所访问和交流 
2014年4月 胜科纳米（苏州）受邀在2014年首届全国纳米科技前沿论坛上作专题报告 
2014年5月 胜科纳米（苏州）有限公司参加2014苏州电路板展 
2014年5月 热烈庆祝胜科纳米（苏州）有限公司进驻苏州工业园区纳米城二期