8月15日-17日，由 中国计算机学会（CCF）主办、CCF容错计算专业委员会和哈尔滨工业大学 共同承办的第十届中国测试学术会议（CTC 2018）在哈尔滨召开。本次会议与国际会议 International Test Conference in Asia 2018 (ITC-Asia)、International Workshop on Cross-layer Resiliency 2018 (IWCR) 联合举办。会议邀请了30多位 IEEE/ACM/CCF Fellow 等顶级专家以及企业代表携手 11 场大会特邀报告，7 个高端产业论坛，50 多场论坛特邀报告， 60 多场学术论坛报告，参会人数超过 500 人，是本年度国内测试、容错、可信度领域规模 最大、规格最高、影响最广的一次学术界盛会。

会议开幕式由容错计算专委秘书长韩银和主持，容错计算专委主任李华伟致欢迎词，中 国计量测试学会秘书长马爱文、IEEE TTTC Chair Chen-huan Chiang、ACM SigDA 主席 Sharon HU、 CTC2018 主席杨孝宗和李晓维致开幕词，程序会议主席董剑介绍本次会议概况。

大咖云集，汇聚一堂

本次大会的演讲嘉宾汇聚了 30 多位来自世界各地的学术界和业界顶级专家以及全国专 业人士，共同探讨测试、容错、可信度等领域的最新研究进展和发展趋势，一起推动集成电 路设计测试技术的发展。

主题报告，无人驾驶、人工智能等新型系统可靠性问题成为热点

15号上午的四位特邀讲者分别做了精彩的学术报告。演讲主题涵盖人工智能算法 的硬件加速、集成电路设计安全、关键软件设计与错误定位、无人电动汽车等热门话题，切中当前国家布局集成电路领域的核心问题和关键技术。

美国圣母大学的 X. Sharon Hu 教授做了题为“A Cross-Layer Perspective for Energy Efficient Processing—from Beyond-CMOS Devices to Deep Learning”  的主题报告。胡教授从跨层设计的 角度，介绍了采用新型器件在非冯诺依曼体系结构的应用。尤其通过探究新型器件独有的行 为特征，辅以新电路，新结构来提升功耗和性能，最终透过对应用程序的评测可以体现跨层 设计的综合收益。

Synopsys 公司亚美尼亚区总裁 Yervant Zorian 博士做了题为“Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security”的主旨报告。自动驾驶技术正在飞速发展，其中最重要的是保证驾

驶安全。Yervant  提到，“人类会犯错，机器也会犯错，但我们要保证机器比人犯更少的错”， Synopsys 公司提供了自动驾驶领域一站式解决方案，包括芯片 IP，EDA 工具和系统设计，以 及芯片和嵌入式系统级测试，支持离线测试和在线测试。测试在自动驾驶是安全保证中最重 要的一环，我国在该领域还期待更长足的发展和创新。

美国德州大学达拉斯分校的 W. Eric Wong 教授做了题为“Automotive Electronics Today: Quality, Safety & Security”的主旨报告。针对当前复杂软件系统的多缺陷问题，W. Eric Wong 教 授在演讲中介绍了基于类聚方法的缺陷定位技术。该项技术通过解决失败测试用例距离定 义、类聚集合数量确定和类聚算法选择这三方面问题，极大地提高软件缺陷定位的准确性和 效率。软件系统安全是网络空间安全战略发展中尤为重要的方面，该报告从多个维度指出了 当前软件系统安全加固的关键环节。

韩国科学与技术高等研究院 KAIST 的 Naehyuck Chang 教授做了题为“Design Automation of Low-power Battery Electric Vehicles”的主旨报告。能效问题一直是电动汽车设计中最富挑战 的议题之一，Naehyuck Chang 教授在报告中介绍了一个他们开发的瞬时功耗模型，该模型充 分考虑了电动汽车重量、速度、加速度、道路斜率等综合因素以保证其高可信度。报告中还

介绍了一种在设计阶段的快速综合方法，可大幅提升电动汽车动力系统的能效。

今年CTC会议呈现出和过去不一样的特点，从中也可以看出行业发展的热点。第一，电动汽车电子系统，无论是测试、可靠性还是设计自动化，成为大家高度关注的对象，而不仅仅只关注集成电路或软件。今年会议的四个大会报告，有2个介绍了在无人驾驶、电动汽车可靠性以及信息安全、设计自动化方面的工作。这主要因为最近几年，无人驾驶方向无论是学术界还是企业界参与度都非常高，而无人驾驶的可靠性和信息安全至关重要，做得不好就是车毁人亡。前一段时间的特斯拉无人驾驶造成了第一宗自动驾驶系统致人死亡的车祸，其主要原因就是在特别自然条件下，无人驾驶系统未能对突发情况做出及时的判断，从而导致事故。第二，人工智能技术在测试和EDA领域应用逐步增多。基于人工智能的自动化测试技术，基于人工智能的敏捷EDA技术成为大家关注的热点。今年大会安排的集成电路领域顶级会议ICCAD的预讲，很多论文都讨论了这方面的技术，这是一个风向标。在ITC-Asia安排的“人工智能和测试”的panel上，大家的讨论也非常热烈，芯片测试数据的如何得到，机器学习模型如何选择等都是大家讨论的热点。

论坛讨论，精彩纷呈

除了重磅的主题演讲外，第一天和第二天的七个前沿技术专业论坛和 ICCAD 论文预讲大会同样精 彩。针对集成电路、软件、汽车电子系统等可靠可信领域关键问题和最新研究进展，论坛邀 请了 50 多名学术和产业专家到会报告。

开源硬件和智能芯片论坛 ：邀请了领域著名学者，像中科院计算所的包云岗研究员、清华大学的汪玉教授、北京知存科技的王绍迪博士等一起研讨。大家一个相同的看法就是，正如软件开源带来的互联网计算基础设施的低成本化和快速迭代，推动了中国互联网产业的跨越式发展，开源芯片也将是一个趋势，而且是我们国家发展芯片产业的一个重要机遇，应该及时跟进，并为开源芯片社区建设作出根基性贡献。

安全关键软件测试技术论坛: 本次论坛聚焦安全关键软件测试技术，围绕如何有效开展代码安全测试和自动测试两大焦点，邀请了14位领域专家进行了专题报告。会议吸引了来自全国50余家测评机构上百位参会代表！中电28所和广五所等范单位分享了最新的安全关键软件测试架构，这为建立领域通用测试平台提供了可行方案！北航和陆工大等高校单位分享了该领域可落地的测试与评估新技术！旋极科技、创景科技、迪真科技等单位技术总监分享了高效的测试平台。

通过本次论坛，在安全关键软件代码国产化自主测试技术，测试用例生成技术落地，大型软件测试平台建设等多个方面形成了共识！第一，在安全关键软件代码静态测试方面，肯定了国产化自主测试平台的技术先进性，确定了多个自主测试平台的适用环境！这为各家测评中心选用该类测评工具提供了依据！第二，在测试用例生成技术落地方面，确定了以需求为依据的用例生成策略，摒弃了传统以代码覆盖为依据的生成策略！该结论为后续测试用例生成工具的设计和采购提供了技术依据！第三，在面向大型系统测试平台建设方面，提出了基于私有云的架构，在测试资源自动分配，测试用例自动生成和执行，测试结果的智能评估等方面提供全面支持！！

会议还组织了集成电路领域顶级会议ICCAD的预讲，从最近几年ICCAD接受的论文来看，人工智能技术已经在EDA领域有了越来越广泛的应用，对进一步提升设计的自动化能力提供了有力的技术手段。EDA领域获奖论坛，聚焦最近最近几年学者在国际EDA领域顶级会议和竞赛上取得的一些喜人突破，获奖者分享了他们的经验。   

首届CCF集成电路Early Career Award（奖）揭晓，福州大学陈建利副教授获此殊荣

中国计算机学会 CCF 集成电路 Early Career Award 针对工作不超过 6 年的青年学者设立， 为从事集成电路方向的青年学者早期职业生涯提供支持。这是中国计算机学会体系内唯一的 一个集成电路专业奖项，今年启动第一届评选。

在开幕式的最后一个重磅环节，评奖委员会主席汪玉教授宣布首届 CCF 集成电路 Early Career Award 授予福州大学的陈建利博士，以表彰陈建利博士在超大规模集成电路电子设计 自动化领域所做的贡献。

陈建利博士一直专注于超大规模集成电路布局问题的研究。通过 10 年来不断的累积以 及版本改进，陈建利博士设计可高效处理元件规模达到千万级的布局工具，成果斐然。2017 年，陈建利博士的第一作者论文获得 EDA 领域旗舰会议第 54 届电子设计自动化会议 DAC2017 最佳论文奖，该奖项为 DAC 会议有史以来中国大陆高校首次以第一单位获奖。

2017 年 11 月，陈建利博士及其团队以巨大优势获得第 36 届国际集成电路计算机辅助 设计会议 ICCAD 所举行的学术竞赛（历时 9 个月）全球第一名，为该赛事有史以来中国大陆 首次获得冠军。此外，2018 年陈建利博士的五篇论文被第 37 届 ICCAD 录用，其中一篇论文 获得布局/版图规划领域最佳论文奖。

摩尔精英创始人兼CEO张竞扬为陈建利博士颁发了本届CCF 集成电路 Early Career Award并表示，人才是半导体产业发展的引擎，中国集成电路产业起步晚、发展快，目前国内相关从业人员缺口高达40万，半导体产业能否持续吸引像陈建利教授一样的优秀年轻人加入至关重要。吸引年轻人靠什么？情怀，责任，也需要收益，而摩尔精英通过整合半导体专业服务，加速芯片公司发展，让芯片企业特别是初创公司用1/3的钱，1/3的人，1/3的时间，完成同样的芯片设计。

台湾大学电机资讯学院院长张耀文教授评价陈建利博士为 EDA 领域国际上耀眼的青年 学者，他的研究成果对集成电路及相关领域的发展将产生深刻的影响。陈建利博士的获奖正 是对集成电路设计领域踏实耕耘、勇于创新的研究者们莫大的肯定和激励！相信未来会有更 多青年不忘初心、牢记使命，积极投身于我国集成电路领域的发展伟业。