工业自动化最新文章 DPF设计，无惧苛刻环境的压力传感器神助攻 柴油机微粒过滤器(DPF)是用来从柴油发动机的废气中除去柴油微粒物或油烟而设计的装置。压力传感器用来测量微粒过滤器DPF两端的压力差。本文简述世强代理的SMI的晶片SM3020的特点，结合DPF的要求做一个技术要点分析。 发表于：2017/8/31 变频器“防火墙”——功能强大的电路保护器件 在智能工业时代，工业以太网、智能传感器网络、无线通信网络、工业计算机等技术的应用，使工业系统架构变得日益复杂，如何保证每个模块甚至每个元件安全高效地发挥性能已成为智能工业发展道路中无法回避的问题。 发表于：2017/8/31 工业控制知识| 伺服和变频器的区别 尽管目前伺服系统的应用还未普及，尤其是国产伺服系统，被应用的场合相比国外伺服产品少之甚少。但随着工业化进程的加快，人们将逐渐意识到伺服系统的优势所在，伺服系统也将获得采购商的认可。 发表于：2017/8/31 内燃机车牵引变频调速控制系统设计 针对铁路提速的需要，开发交流电传动工程作业机车是相当必要的。 发表于：2017/8/31 为工业物联网助力 在制造业中，及早的识别出工艺或产品上的差异便可以尽早进行修正，从而减少缺陷并提高生产效率。工业物联网(IIoT)提供了一种新的途径来发现和降低可变性。需要温度、压力和粘度这类可变参数的工艺，或者要求准确放置 发表于：2017/8/31 工业以太网5G即将到来 看物联网的发展 在3G、4G相继从陌生的概念变成被广为应用的现实后，5G时代正在向我们走来。电信运营商们都将主要精力放到了物联网领域，据GSMA的预测，到2020年全球互联网设备将突破270亿，移动互联设备有望达到105亿，未来五年的物联网领域投资将达到6万亿美元。 发表于：2017/8/29 物联网安全将成为未来企业发展的重大挑战 物联网安全将成为未来企业发展的重大挑战，，物联网安全比互联网安全多了感知层，传统互联网的安全机制可以应用到物联网，但是物联网安全比互联网安全更复杂。 发表于：2017/8/29 物联网日渐普及企业所面临的五大挑战 互联网时代，如果你想搜索信息就要手动输入关键词，哪怕只是打开应用也要点击一下。设想一下，未来的物联网数据最开始肯定是在一个小型的数据中心进行初步处理，然后再传输到一个更大规模的数据中心，对这些数据进... 发表于：2017/8/29 RS485集线器在总线型数据采集系统的应用 工业现场使用的智能仪表是随着80年代初单片机技术的成熟而发展起来的,现在世界仪表市场基本被智能仪表所垄断。究其原因就是企业信息化的需要,企业在仪表选型时其中的一个必要条件就是要具有联网通信功能。（485通讯、以太网通讯、光仟通讯等等） 发表于：2017/8/29 工业以太网STE-2000系列串口服务器在工业现场的应用 现有的许多具有串口管理功能的设备不能进行联网的管理和数据存取，我们可以利用先进的TCP/IP技术和管理方式对这些设备进行技术改造。本文主要对基于TCP/IP的串口数据流做了阐述，并提出了基于硬件与软件相结合实现的串口服务器的系统整体解决方案，对硬件系统的总体、组成框架和应用架构做了阐述。 发表于：2017/8/29 RFID在电石生产上的应用 一家中国生产厂的装料小车位置以前通过小车车轮上的编码器确定。然而，由于加速和制动过程中的滑动，该位置信息变得越来越不准确，因此必须进行手动位置校正。现在，制造商使用装料小车上的RFID标签和运输导轨上的读写头来测量位置。这使得装料小车能够可靠地定位到装料门前面。无论是IP67读写头，还是坚固可靠的标签，都不会被生产过程中的粉尘和高温损坏。现在，工厂运行的能源效率和消耗效率更高，同时员工的工作环境更加安全。 发表于：2017/8/29 印刷的发展及将数控系统引入印刷机械有哪些优势? 印刷机械设备自发明以来，在长期发展的进程中，走过从手动到机械化的阶段，在近代，为进一步提高工作效率、减轻劳动强度，走的是逐步自动化的道路 发表于：2017/8/28 基于现场总线的网络监控系统的结构和实现方案 本文描述了一个基于现场总线的电子清纱器网络监控系统的结构和实现方案。系统采用现场总线技术，利用MOXA CP-114IS构成双向串行多节点多总线协议共存的数字通信系统，实施对现场设备实时数据的采集和监控。文中阐述了系统各组成部分的功能和实现方案。重点介绍了主、从机之间的通信规约以及通信软件模块的编程思路。 发表于：2017/8/28 力纳克直线推杆LA36整体解决方案 在力纳克的直线推杆中加入这个标准化的串行通讯协议后，您可以在 CAN BUS系统中使用直线推杆，而无需为此定制电子设备。 发表于：2017/8/28 基于抗随机性故障分析的高效率可测试设计方法 为了在提高芯片测试覆盖率的同时减少生产测试时的测试向量，提出了一种基于对电路进行抗随机向量故障分析，进而在电路中插入测试点，从而提供芯片的测试效率的方法。实际电路的实验结果表明，使用了该方法的可测性设计，在不损失测试覆盖率的情况下，能够有效地减少平均45.85%的测试向量，从而帮助设计者提高芯片的测试效率。 发表于：2017/8/28 <…759760761762763764765766767768…>
