• 首页
  • 新闻
    业界动态
    新品快递
    高端访谈
    AET原创
    市场分析
    图说新闻
    会展
    专题
    期刊动态
  • 设计资源
    设计应用
    解决方案
    电路图
    技术专栏
    资源下载
    PCB技术中心
    在线工具库
  • 技术频道
    模拟设计
    嵌入式技术
    电源技术
    可编程逻辑
    测试测量
    通信与网络
  • 行业频道
    工业自动化
    物联网
    通信网络
    5G
    数据中心
    信息安全
    汽车电子
  • 大学堂
  • 期刊
  • 文献检索
期刊投稿
登录 注册

Multitest交付适于麦克风测试的首款InPhone系统

Multitest交付适于麦克风测试的首款InPhone系统[测试测量][其他]

Multitest公司,已向一家知名IDM的欧洲基地交付首款InPhone系统。配合MultitestInStrip分选机,InPhone系统专用于MEMS麦克风的高并行度MEMS测试与校准。

发表于:2011/9/23 下午3:59:28

Pt电阻温度传感器批量测试系统的设计

Pt电阻温度传感器批量测试系统的设计[测试测量][其他]

本文介绍了Pt电阻温度传感器测试系统的多通道信号调理模块的原理及电路设计。

发表于:2011/9/23 下午3:58:27

便携式低功耗雷达导航仪智能测控系统

便携式低功耗雷达导航仪智能测控系统[测试测量][其他]

针对现代雷达导航设备的生产调试和外场测试的双重需要,设计一种便携式低功耗智能测控系统。系统以MSP430为主处理器,设计ARINC429总线通信在内的雷达导航仪测控系统,采用电池供电,可手持方式工作。

发表于:2011/9/23 下午3:57:02

基于Multisim的电子技术课程虚拟实验环境创设

基于Multisim的电子技术课程虚拟实验环境创设[测试测量][其他]

利用EDA仿真工具Multisim,搭建实验仿真电路,在课堂教学中创设虚拟实验环境,并在此环境下采用理论与实践相结合的教学模式开展教学,以解决传统教学模式下存在的问题。

发表于:2011/9/23 下午3:55:26

基于MC9S12XHZ512的汽车组合仪表设计

基于MC9S12XHZ512的汽车组合仪表设计[嵌入式技术][其他]

介绍了以飞思卡尔MC9S12XHZ512芯片为控制核心的汽车组合仪表板控制系统的设计,简述了汽车组合仪表的基本模块构成,给出了步进电机驱动设计方案和模拟量采样复用电路的设计原理。

发表于:2011/9/23 下午3:46:47

基于C8051F020的示波器监控程序设计

基于C8051F020的示波器监控程序设计[测试测量][其他]

本文介绍的一键多义的按键管理程序,对多按键的智能仪表可以通用。编码开关的编程方法简单易懂。在A/D转换部分,提出的去掉低4位的软件滤波方法可靠可行,对精度要求不高的场合非常适用。

发表于:2011/9/23 下午3:43:25

霍尔式胶印机旋转编码器设计

霍尔式胶印机旋转编码器设计[测试测量][其他]

基于开关型霍尔电路设计了霍尔式胶印机旋转编码器系统(以下简称霍尔旋转编码器),使传感器的安装、调试、布线简化,节省了PLC的输入接口资源,在胶印机控制系统中的应用取得了成功。

发表于:2011/9/23 下午3:38:32

基于LabVIEW平台的参量阵测试系统设计

基于LabVIEW平台的参量阵测试系统设计[测试测量][其他]

声学参量阵(Parametric Acoustic Array)是利用介质的非线性特性,使用两个沿同一方向传播的高频初始波在远场中获得差频、和频及倍频等的声发射装置。根据介质中声吸收原理,吸收与信号频率的平方成正比,在声波的传播过程中,和频及倍频等频率较高的信号衰减很快,经过一段距离后,仅剩下频率较低的差频信号。与常规换能器相比,首先,该差频信号具有更好的指向性;其次,该差频信号几乎没有旁瓣,避免了在浅海沉底或沉积物探测过程中由于边界不均匀所带来的干扰和信号处理的复杂性;第三,差频信号具有大于10 kHz的带宽,空间分辨率高,抗混响,并能获得较高的信号处理增益等。

发表于:2011/9/23 下午3:37:28

直流继电器及交流接触器主要参数测试电路

直流继电器及交流接触器主要参数测试电路[测试测量][其他]

继电器的触点接触电阻、线圈电阻、线圈吸合电压和释放电压的测试电路如图所示。

发表于:2011/9/23 下午3:20:45

小尺寸集成电路CDM测试

小尺寸集成电路CDM测试[测试测量][其他]

本文将探讨小器件CDM测试的难处,并提出一些已经尝试用于使用场致CDM测试方法改善小器件可测试性的构想。

发表于:2011/9/23 下午3:01:41

  • <
  • …
  • 2281
  • 2282
  • 2283
  • 2284
  • 2285
  • 2286
  • 2287
  • 2288
  • 2289
  • 2290
  • …
  • >

活动

MORE
  • “汽车电子·2026年度金芯奖”网络投票通道正式开启!
  • “2026中国强芯评选”正式开始征集!
  • 《集成电路应用》杂志征稿启事
  • 【热门活动】2025年基础电子测试测量方案培训
  • 【技术沙龙】可信数据空间构建“安全合规的数据高速公路”

高层说

MORE
  • Develop平台打造电子研发全生命周期生态
    Develop平台打造电子研发全生命周期生态
  • 2026年,AI将给设计工程软件带来哪些变革?
    2026年,AI将给设计工程软件带来哪些变革?
  • 锚定“十五五”新蓝图筑牢时空信息“中国芯”
    锚定“十五五”新蓝图筑牢时空信息“中国芯”
  • 边缘人工智能机遇将于2026年成为现实
    边缘人工智能机遇将于2026年成为现实
  • 【回顾与展望】英飞凌:半导体与AI双向赋能
    【回顾与展望】英飞凌:半导体与AI双向赋能
  • 网站相关
  • 关于我们
  • 联系我们
  • 投稿须知
  • 广告及服务
  • 内容许可
  • 广告服务
  • 杂志订阅
  • 会员与积分
  • 积分商城
  • 会员等级
  • 会员积分
  • VIP会员
  • 关注我们

Copyright © 2005-2024 华北计算机系统工程研究所版权所有 京ICP备10017138号-2