控创4U IPC7300系列在轨道交通中的应用[其他][工业自动化]
发表于:8/24/2011 4:57:04 PM
短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究[测试测量][其他]
近年来随着介观物理和纳米电子学对散粒噪声研究的不断深入,人们发现散粒噪声可以很好的表征纳米器件内部电子传输特性。
发表于:8/24/2011 4:45:05 PM
发表于:8/24/2011 4:57:04 PM
近年来随着介观物理和纳米电子学对散粒噪声研究的不断深入,人们发现散粒噪声可以很好的表征纳米器件内部电子传输特性。
发表于:8/24/2011 4:45:05 PM