基于ADSL的热网监控系统解决方案

基于ADSL的热网监控系统解决方案[通信与网络][其他]

本文提出了一种基于ADSL的热网监控系统解决方案。整个系统由监控中心和若干个控制节点组成。控制节点采集现场的温度、流量、压力等数据，并通过ADSL传送到远程监控中心，监控中心通过WEB方式显示工况数据并向控制节点发送指令，调整供热平衡。论文讨论了实现该系统的关键技术，并给出了控制节点的软硬件系统详细设计。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

CIO眼中统一通信技术的优缺点

CIO眼中统一通信技术的优缺点[通信与网络][其他]

IT主管畅谈在部署统一通讯技术时遇到的意想不到好处以及面临最大的挑战

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

2010电信趋势预测：非关键性技术影响中国

2010电信趋势预测：非关键性技术影响中国[通信与网络][其他]

刚刚逝去的2009年值得每一个通信人怀念，因为在09年发生了很多值得大家铭记的事情：有全球性金融危机给行业带来的困惑，有十年苦盼一朝得来的苦笑，有百年老店轰然坍塌的唏嘘不已，还有拿到久违的市场订单的喜悦，不一而足。 当然，有人带着鲜花和掌声功成身退，有人带着众人的期望背井离乡，也有人带着此起彼伏的质疑声暗淡离场，但他们都值得尊敬。好的，09年总是要过去的。我们还是把眼光放在2010年吧，因为2010年会更加精彩。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

单正向栅驱动IGBT简化驱动电路

单正向栅驱动IGBT简化驱动电路[电源技术][其他]

单正向栅驱动IGBT是器件发展的巨大进步。IRGP30B120KD-E的C值很低，在单正向栅驱动条件下，其开关性能非常理想。器件不需要负偏置栅驱动便能可靠关断，即使在集电极的dV/dt为3V/ns。与单片式栅驱动器的兼容性更为桥式变换器和交流电机驱动提供更优越和成本更低的解决方案。所以我们期望这些先进的IGBT能为新的IC设计提供更大的优势。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

智能视频系统技术透视

智能视频系统技术透视[其他][工业自动化]

智能视频向各种应用扩展的驱动因素有：从模拟向数字检测的转变、改进的有线和无线网络，以及更成熟的软件。最新系统更是从基本图像检测和捕捉功能发展到图像分析系统，这要归功于强大的视频处理硬件和智能视频软件。今天的智能相机正在从功能上替代昨天基于PC的系统。这些越来越小的相机可以在输出与其它电路之间提供速度更快、带宽更高的连接，而且有些功能可以做在检测芯片上，更多功能做在相机盒内。以前这些功能需要用外部PC平台或主机进行处理。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

视频监控六大演进趋势

视频监控六大演进趋势[其他][工业自动化]

3G视频监控已成为当前视频监控市场的主流趋势。而进入2010年，高清化、智能化、标准化和集成化成为3G视频监控的下一站目标。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

3GPP LTE设计与测试的挑战

3GPP LTE设计与测试的挑战[测试测量][其他]

UMTS地面无线接入(UTRA)标准最初是以WCDMA为基础开发的，后来经过不断演进，加入了高速分组接入(HSPA)。第8版3GPP标准包含了针对HSPA的增强以及E-UTRA，又称为长期演进(LTE)。LTE是一种基于OFDM技术的全新空中接口，具有更高的数据传输速率、更低的延迟、简化的纯IP网络以及更高的频谱效率，将为用户和运营商带来一系列的优势。然而，为充分发掘LTE标准的潜力，首先必须解决一系列设计挑战。幸运的是，新的测试设备正在开发中，它将有助于克服这些挑战。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

使用脉冲I-V测试技术表征射频器件(二)

使用脉冲I-V测试技术表征射频器件(二)[测试测量][其他]

脉冲式电流-电压(I-V)测试正在成为评估半导体器件性能和可靠性的极佳方法。这种测量方法具有较高的性价比，并可避免自加热和瞬时俘获电荷等可能导致错误测试结果的负面效应，还可以为改进的计算机辅助工程(CAE)软件模型提供精确的器件数据。本文将探讨这一技术。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

模拟电路设计连载（二）OP增幅器(下)

模拟电路设计连载（二）OP增幅器(下)[模拟设计][其他]

由于OP增幅器的主要功能是维持dynamic range的稳定，因此接着要以反增幅电路与非反增幅电路两个基本电路为例，同时透过实验手法介绍有关供给OP增幅器最适切的电源供给方法、单电源的使用方法、电源line的处置，以及对低阻抗负载的处置方法等等。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00

使用脉冲I-V测试技术表征射频器件（一）

使用脉冲I-V测试技术表征射频器件（一）[测试测量][其他]

脉冲式电流-电压(I-V)测试正在成为评估半导体器件性能和可靠性的极佳方法。这种测量方法具有较高的性价比，并可避免自加热和瞬时俘获电荷等可能导致错误测试结果的负面效应，还可以为改进的计算机辅助工程(CAE)软件模型提供精确的器件数据。

发表于：2010/1/7 上午12:00:00