内容简介：随着半导体射频微波器件的性能不断提升，在片测试及T/R组件等典型应用的测试指标及要求也日趋复杂，不仅追求测试稳定性和规模化，更需要优化测试步骤提升效率。针对于射频微波器件的全参数一体化测试需求，罗德与施瓦茨高端ZNA矢量网络分析仪针对典型应用如放大器测试、变频测试、脉冲测试以及频谱分析等提供专业一体化测试解决方案。