《电子技术应用》
您所在的位置:首页 > 测试测量 > 新品快递 > 德州仪器高温 H.E.A.T. 评估板为苛刻高温环境加速电子产品安全测试

德州仪器高温 H.E.A.T. 评估板为苛刻高温环境加速电子产品安全测试

完整的信号采集系统符合高达 200ºC 的高温要求,可测试高温炉
2011-06-28
作者:德州仪器

  日前,德州仪器 (TI) 宣布推出业界首款高温数据采集系统 — 苛刻环境采集终端 (H.E.A.T.) 评估板 (EVM),其包含可满足 -55ºC 至 210ºC 极端工作温度要求的全系列 TI 信号链组件。H.E.A.T. EVM 可用于测试高温炉,能够在高达 200ºC 的炉温下工作长达 200 小时。该产品支持 8 个模拟数据通道,可在苛刻高温环境下实现各种应用的信号调节、数字化及处理,充分满足井下钻孔、喷射引擎以及重工业应用需求。
 
  利用H.E.A.T. EVM,客户无需对工业级组件超出数据表温度规范之外的器件进行昂贵的筛选认证测试。该工具有助于制造商快速安全地采用符合苛刻环境要求的组件进行应用开发,将开发、测试与认证时间锐减长达一年。如欲了解 H.E.A.T. EVM 详情或订购,敬请访问:www.ti.com.cn/heat-pr
 
H.E.A.T. EVM 的主要特性与优势
  •针对温度、压力传感器及加速器优化的 6 个通道,加上 2 个通用通道(全差动和单端);
  •全系列组件符合 -55ºC 至 210ºC 工作温度范围要求,可确保至少 1000 小时的工作时间:
  oADS1278-HT — 8 通道同步采样 24 位 128 KSPS ADC;
  oSM470R1B1M-HT — ARM7 微处理器;
  oOPA211-HT — 低噪声高精度运算放大器
  oOPA2333-HT — 低功耗零漂移串行运算放大器;
  oINA333-HT — 零漂移低功耗单电源仪表放大器;
  oTHS4521-HT — 低功耗全差动放大器;
  oREF5025-HT — 2.5 V 高精度电压参考;
  oSN65HVD233-HT — CAN 收发器;
  oSN65HVD11-HT — RS-485 收发器。
  •EVM 采用聚酰亚胺材料制造,整合了高温额定无源组件与高温焊接材料,可测试高温炉,在高达 200°C 的温度下工作长达 200 小时。
  
工具与供货情况
  H.E.A.T. EVM 是 TI 高温、高可靠环境全系列模拟与嵌入式处理产品的有力补充。该电路板可立即订购。
  
  H.E.A.T. EVM 用户指南现已可供下载,主要介绍硬件与通道配置等的初始化与校准。
 
  H.E.A.T. EVM 中的所有单个高温半导体组件均采用高温陶瓷封装与确优裸片 (KGD) 封装,支持业界最小的封装集成。
 
了解有关 TI   H.E.A.T.  EVM 与高温产品系列的更多详情:
  •了解更多详情,订购 H.E.A.T. EVM:www.ti.com.cn/heat-pr
  •深入了解 TI 全系列高温 IC 及相关系统方框图:http://focus.ti.com.cn/cn/hirel/docs/prodcateglanding.tsp?sectionId=605
  •下载 TI 高温产品指南:http://focus.ti.com.cn/cn/lit/sg/sgzt009/sgzt009.pdf
  •通过 TI E2E™模拟技术讨论社区与同行工程师互动交流,咨询问题、共享知识,并帮助解决技术难题:http://e2e.ti.com/cn/forums/default.aspx?GroupID=10
 
商标
  TI E2E 是德州仪器的商标。所有注册商标与其它商标均归其各自所有者所有。

本站内容除特别声明的原创文章之外,转载内容只为传递更多信息,并不代表本网站赞同其观点。转载的所有的文章、图片、音/视频文件等资料的版权归版权所有权人所有。本站采用的非本站原创文章及图片等内容无法一一联系确认版权者。如涉及作品内容、版权和其它问题,请及时通过电子邮件或电话通知我们,以便迅速采取适当措施,避免给双方造成不必要的经济损失。联系电话:010-82306118;邮箱:aet@chinaaet.com。