-通过全新 MSP MCU大幅度减少感测和测量应用中的组件数量，最高可将印刷电路板 （PCB）的面积减少75%

　　北京2016年3月22日电 /美通社/ -- 德州仪器（TI）（NASDAQ: TXN）日前宣布其用户现在能够利用全新的 MSP430FR2311 微控制器 （ MCU ） 来延长感测和测量应用中的电池使用寿命。该款器件是业内唯一一款具有集成型低泄漏跨阻放大器 （ TIA ） 的 MCU，同时其流耗仅有50pA。作为 TI 超低功耗 MSP430?MCU 系列的延伸产品，该款全新 MCU 的泄露值较其它电压和电流感测解决方案低20倍，并且能够在不牺牲电池使用寿命或电路板空间的情况下提供模拟和存储技术的可配置性。

　　支持可配置模拟的高集成 MCU 解决方案可帮助开发人员简化电路原理图，同时节省高达75%的 PCB 空间。MSP430FR2311 MCU 使开发人员能够利用 ADC、运算放大器、比较器和 TIA 等模拟集成器件连接广泛的传感器。该解决方案还在单个3.5mmx4mm 封装内集成了铁电随机访问存储器 （ FRAM ） 技术，并避免了对于板上晶振的需求。此外，该单芯片解决方案还将降低设计复杂度和总体项目的开发时间。

　　MSP430FR2311 MCU 使得开发人员能够选择他们所需要的放大器配置（非反相、反相或跨阻），并且通过选择应用代码或数据所分配的存储器数量来扩展他们的应用，从而消除了闪存与 RAM 的比例限制。通过使用由Code Composer Studio™  集成开发环境 （ IDE ） 和 IAR Embedded WorkBench® 支持的 MSP430FR2311 MCU LaunchPad ™开发套件 ，用户能够在数分钟内立即开始设计开发工作。同时，凭借通过一个光电二极管和TIA配置进行电流感测的MSP430FR2311烟雾探测器参考设计 （ 2016年第二季度发布 ） ，用户可以深入研究一个应用的实施。此外，在医疗、健康和健身、楼宇自动化及个人电子设备等领域进行开发工作的用户还可以通过此TI Design参考设计 （ TIDA-00242 ） 来进一步延长电池使用寿命。这个参考设计使用了基于MSP430FR2311 MCU系统中的TI能量采集IC （ bq25570 ） 。

　　目前正在使用2KB和4KB器件的 MSP430G2x MCU 用户可以轻松将他们的设计迁移至 MSP430FR2311 MCU，并充分利用非易失性 FRAM 所具有的更高性能以及更高的模拟集成度，其中包括运算放大器、ADC 和比较器。欢迎查看 MSP430F2xx 和 MSP430G2xx 系列 迁移指南 以了解如何在需要更多模拟功能的情况下在不同系列器件间实现轻易变换。