[AET广州]2017年11月23日下午，由美国国家仪器公司（NI） 主办、电子技术应用协办的“2017NI航空航天智能测试系统巡回研讨会”广州站的活动，在广州建国酒店举行。

来自广州地区的近百余位电子工程师莅临现场，共同聆听了NI公司的技术专家对于下一代测试系统与方案的介绍，探讨了面对复杂测试环境的创新理论。 

传统测试系统的方法就是叠罗汉，每一台仪器都拥有固定的功能，使用着过时的处理器，无法解决通信延迟对于测试结果的影响。

目前面临着非常突出的问题，第一是巨额的装备寿命周期费用，在测试系统设计和全周期维护成本昂贵，同时要在不同阶段进行分散投资。第二，面对小批量和多批次的测试需求，传统的测试系统的部署是相当麻烦的事情，这样往往会影响工程进度。第三，对于传统测试系统中大量的专用设备，都需要有专门的工程人员来操作，这样非常不方便开发人员的体验。第四，组成传统测试系统的关键设备，往往品种繁多同时体积庞大，通用性差的特点使得测试准备昂贵而复杂。

因此，NI公司采用灵活的开放式软件和模块化硬件开发了更智能的测试系统，这个充满活力的生态系统以用户为导向，新的测试系统不再是固定的测试功能，而是为了智能化、通用化而设计。

据演讲者介绍，面对航空与国防电子市场的客户，NI提供了满足需求的特殊服务模式。具体手段包括：1、长达10年的保修；2、全寿命周期的技术更新与管理咨询；3、8 小时快速备件替换服务；4、ISO17025质量较准方案及上门服务；5、产品变更通知及备件服务。

在演讲会期间，NI公司还现场展示了其采用最新方案的测试解决方案。

现场演示方案一。

现场演示方案二。

与会听众与演讲嘉宾热烈交流

与会听众与演讲嘉宾热烈交流