《电子技术应用》
您所在的位置:首页 > 测试测量 > 设计应用 > 一种用于高频S参数的去嵌算法
一种用于高频S参数的去嵌算法
2023年电子技术应用第1期
纪萍,徐小明,朱国林,季振凯
无锡中微亿芯有限公司,江苏 无锡 214072
摘要: 在S参数的测量过程中,需通过去嵌方法去除测试夹具带来的结果误差。该算法通过时域的方法对夹具进行分解。接着将分解得到的夹具S参数采用ABCD矩阵运算进行去除,从而得到待测器件的S参数。通过设计测试板来进行实验,将该算法与传统的AFR和Delta L方法进行了比较,验证了该去嵌算法对高频信号的有效性以及准确性。同时由于该算法先分解再去嵌的特性,使其可应用于左右夹具不一致的情况。
中图分类号:TN402
文献标志码:A
DOI: 10.16157/j.issn.0258-7998.222935
中文引用格式: 纪萍,徐小明,朱国林,等. 一种用于高频S参数的去嵌算法[J]. 电子技术应用,2023,49(1):130-134.
英文引用格式: Ji Ping,Xu Xiaoming,Zhu Guoling,et al. A method for de-embedding s-parameter with high-frequency[J]. Application of Electronic Technique,2023,49(1):130-134.
A method for de-embedding s-parameter with high-frequency
Ji Ping,Xu Xiaoming,Zhu Guoling,Ji Zhenkai
Wuxi East Technologies Inc., Wuxi 214072, China
Abstract: During the measurement of s-parameters, using the de-embedding method to remove the influence of fixture is important. The proposed method decomposes the s-parameter of fixture by time domains. Then the ABCD matric is used to remove the decomposed fixture and get the s-parameter of device under test. By designing printed circuit board to do some experiments, and compare the proposed method with the other two traditional methods, AFR and Delta L. The results prove that this method is valid and accurate under high-frequency signal. Due to the facture that the algorithm decomposes first and then de-embeds, it can be applied to the situation that the left and right fixture are different.
Key words : s-parameter;de-embedding;high-frequency;ABCD matric

0 引言

    随着高速传输信号速率的不断增高,印制电路板(PCB)的信号完整性研究对整个通信系统的电气性能来说至关重要[1]。其中对PCB高速信号质量的测量和管控是信号完整性研究中的重要一环。S参数是利用频域来描述高速信号通道特性的一种方式,可通过S参数提取插入损耗、回波损耗、串扰等信息来对信号的质量进行评价[2]

    在利用仪器对S参数进行测量时,因为待测器件(DUT)的接口与测试仪器的接口不一致,需要通过夹具进行连接,而夹具的存在会影响测试结果。如何准确地去除夹具的影响,得到想要的DUT的S参数是一个值得研究的课题[3]




本文详细内容请下载:https://www.chinaaet.com/resource/share/2000005090




作者信息:

纪萍,徐小明,朱国林,季振凯

(无锡中微亿芯有限公司,江苏 无锡 214072)




wd.jpg

此内容为AET网站原创,未经授权禁止转载。