0　引言

光学显微镜作为医疗、生化、教育和检测等行业的基础设备，广泛应用于生物医学、制药、科研、石化、地质矿产、电子工业、全自动检测等领域。自动聚焦技术是光学显微镜成像系统中至关重要的技术，决定其精度、效率和稳定性。

自动聚焦技术主要分为主动式和被动式。主动式自动聚焦技术主要依靠传感器，通过测量被测物体与成像面的距离，再依靠成像原理计算出离焦量。被动式自动聚焦技术是基于图像处理技术，通过对采集到的图像进行信息数据分析，判断当前图像的聚焦程度。由于被动式自动聚焦技术不需要添加额外的传感器，仅利用获取的图像序列就能进行分析系统的聚焦程度，近年来得到广泛的应用。被动式自动聚焦技术主要分为两类：聚焦深度法(Depth From Focus, DFF)和是离焦深度法(Depth From Defocus, DFD)。DFD需根据成像系统建立一定的数学模型，由于各成像系统不同，建立数学模型所需的参数具有一定的差异性，故DFD在实际应用中并不广泛。而DFF无需根据成像系统建立复杂的数学模型，只需利用图像内容的分布特点，灵活选取聚焦窗口以及评价函数，目前适用性较高。其中，聚焦深度法主要包括3个核心问题：聚焦窗口的选取、聚焦评价函数的选择和极值搜索算法的设计。

本文利用显微成像系统以及自动聚焦技术，针对目前常用的8种显微成像系统的聚焦评价函数进行灵敏度、清晰度比率、平缓区波动量和处理时间上数据分析，选取出适用于显微成像系统的最优聚焦评价函数。

本文详细内容请下载：https://www.chinaaet.com/resource/share/2000005318

作者信息：

吕美妮1，2，甘辉1，2，王奎奎1，2，彭国晋1，2

（1.梧州学院 电子与信息工程学院，广西 梧州 543002；2.广西机器视觉与智能控制重点实验室，广西 梧州 543002）