中国上海，2023年9月14日——东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，进一步扩展ThermoflaggerTM过温检测IC产品线---“TCTH0xxxE系列”。该系列可用于具有正温度系数（PTC）热敏电阻的简单电路中，用来检测电子设备中的温度升高，六款新产品于今日开始支持批量出货。

　　为了使电子设备按规定运行，半导体和其他电子元件必须在设计参数范围内工作。内部温度是一个关键参数，特别是当它高于设计流程中的假设温度时，它就可能成为安全性和可靠性方面的一个主要问题，因此需要过温监测解决方案来检测任何温度升高。

　　当配置在具有PTC热敏电阻（其电阻值随温度变化而变化）的简单电路中时，Thermoflagger^TM过温检测IC不仅可以检测温度升高，还可以检测置于热源附近的PTC热敏电阻的电阻变化，并在温度过高时输出FLAG信号。例如，当Thermoflagger^TM检测到异常发热情况并向MCU发送FLAG信号时，MCU将关闭设备或改变正在产热的设备或半导体的运行方式。通过串联PTC热敏电阻可同时在多个点进行过温检测。

　　这六款新产品分别是：TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述产品加上已经发布的TCTH021BE和TCTH022BE，进一步扩展了TCTH0xxxE系列产品线，使该产品线增加至8款产品。通过提供对两种类型的PTCO输出电流^[1]的支持，新产品扩大了PTC热敏电阻的可选范围，既可选择推挽型或开漏型FLAG信号输出类型^[2]，也可选择使用或不使用FLAG信号锁存功能^[3]。扩大产品选择范围，可以实现低电流消耗的灵活电路设计。

　　新产品采用小型，符合行业标准SOT–553封装（东芝的封装名称为：ESV），确保TCTH0xxxE系列支持用户为成套电子设备轻松配置过温检测系统，并助力实现尺寸和功耗的双重改善。

　　除了已经发布的参考设计过温检测IC Thermoflagger^TM的应用电路（TCTH021BE／开漏型）之外，东芝在其官网上又发布了新版参考设计：过温检测IC Thermoflagger^TM应用电路（TCTH021AE／推挽型）。

　　东芝使用村田制作所（以下简称“村田”）提供的PTC热敏电阻的相关技术信息来实现过温检测解决方案。村田建议将Thermoflagger^TM与PTC热敏电阻结合使用。

　　未来，东芝将继续扩展其产品线，推出采用各种封装、器件特性不断完善的产品，助力提高设计灵活性并实现碳中和目标。

　　开漏分配中FLAG信号输出的操作示例

　　Thermoflagger^TM TCTH021AE电路板样品

　　▲应用：

　　-移动设备（笔记本电脑等）

　　-家用电器

　　-工业设备等

　　▲特性：

　　-配置简单，可与PTC^[1]热敏电阻结合使用

　　-通过串联PTC[1]热敏电阻，可同时在多个点进行过温监测。

　　-低电流消耗：

　　I_DD＝1.8μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE）

　　I_DD＝11.3μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE）

　　-小型标准封装：SOT–553（ESV）

　　-扩大了PTC^[1]热敏电阻的选择范围，具有两种类型的PTCO输出电流：

　　I_PTCO＝1.00μA（典型值）（TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH011BE、TCTH012BE）

　　I_PTCO＝10.0μA（典型值）（TCTH021AE、TCTH022AE）

　　-高PTCO输出电流精度：±8%

　　-FLAG信号输出（PTCGOOD）可选择推挽型和开漏型

　　-可选择FLAG信号锁存功能

　　▲主要规格：

　　注：

　　[1] PTCO输出电流：由过温检测IC提供给PTC热敏电阻的恒定电流。

　　[2] 当过温检测IC检测到错误时，就会输出FLAG信号。推挽型由两个垂直堆叠的MOSFET组成。输出电流以任一方向流入和流出。开漏型由一个MOSFET组成。输出电流只向一个方向流动。

　　[3] FLAG信号锁存功能在过温检测IC检测到错误（即使只有一次）后保持FLAG信号。过温检测IC不能自行恢复；需要通过从MCU等将信号输入到RESET引脚来恢复。

　　[4] 之前发布的产品

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