基于ST2516测试机的CD4511芯片性能测试
集成电路应用
朱东南
南京高等职业技术学校
摘要： 该研究基于国内第一台250 Mbit/s国产半导体测试机ST2516对CD4511芯片的性能进行测试。从硬件电路的搭建、开短路测试、漏电流测试、输出电压测试、功能测试等几个方面详细阐述了芯片测试的基本原理和程序编写。测试结果表明，芯片的性能参数均在合理的阈值范围内，为同类型芯片测试提供了参考，对完善集成电路测试人才实践培养体系、缓解行业人才缺口具有积极意义。
中图分类号：TP391文献标识码：ADOI:10.19339/j.issn.1674-2583.2026.06.007
中文引用格式：朱东南. 基于ST2516测试机的CD4511芯片性能测试［J］.集成电路应用，2026，43（6）：40-46.
英文引用格式：Zhu Dongnan. Performance test of CD4511 chip based on ST2516 tester［J］.Application of IC，2026，43（6）：40-46.
中文引用格式：朱东南. 基于ST2516测试机的CD4511芯片性能测试［J］.集成电路应用，2026，43（6）：40-46.
英文引用格式：Zhu Dongnan. Performance test of CD4511 chip based on ST2516 tester［J］.Application of IC，2026，43（6）：40-46.
Performance test of CD4511 chip based on ST2516 tester
Zhu Dongnan
Nanjing Technical Vocational College
Abstract： This research conducts performance tests on the CD4511 chip using the ST2516, China’s first domestically manufactured semiconductor tester supporting a 250 Mbit/s test rate. It elaborates in detail on the fundamental principles of integrated circuit testing and programming development from multiple perspectives, including hardware circuit construction, open-short testing, leakage current testing, output voltage testing, and functional testing. The test results demonstrated that all performance parameters of the chip fell within reasonable threshold ranges. This work provides a reference for the testing of similar chips, and carries positive implications for improving the practical training system of integrated circuit testing professionals and alleviating the talent shortage in the industry.
Key words : ST2516 tester; CD4511; chip testing; DC parameter testing; functional testing
引言
集成电路作为现代高新技术产业的基石，已广泛应用于航空航天、国防军事、工业生产、医疗卫生等关键领域。集成电路测试是大规模集成电路产业不可或缺的环节，直接影响芯片质量与产业化效益。当前，集成电路测试核心技术仍掌握在海外企业手中，测试设备采购成本居高不下、专业技术人才供给不足等问题，持续制约着国内集成电路产业高质量发展。近年来，长川科技、华峰测控等本土测试设备企业持续攻关前沿核心技术，同时国内涌现出一批具备创新能力的芯片测试厂商，共同推动我国集成电路测试技术实现稳步发展［1-3］。
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作者信息：
朱东南
(南京高等职业技术学校，江苏南京210019)
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