头条 是德科技XR8示波器平台开创AI时代信号表征新纪元 2026年3月5日，是德科技在北京隆重发布了全新的XR8实时示波器平台和基于该平台的首款产品Infiniium XR804KA。 最新资讯 工业CT用驻波电子直线加速器测试系统的研制 从验收直线加速器的角度出发，设计了直线加速器测试系统，详细阐述了测试系统与直线加速器的电气连接关系，以及系统的各组成模块，实现了分项系统的质量监控操作。 发表于：2011/7/12 测试测量系统要求及仪器选择的关键因素 在可用的测试和测量硬件和软件范围内进行选择，对初次用户和有经验的用户来说，都一样难办，这是可以理解的。 发表于：2011/7/11 LabVIEW和CompactRIO快速原型测量系统的使用 使用NI CompactRIO平台与LabVIEW软件快速开发了一个高度灵活的测量系统原型，提供快速采样和大带宽。 发表于：2011/7/11 热变形温度和马丁耐热辨析 热变形温度(全称负荷热变形温度，英文缩写：HDT)是指对浸在120℃/h的升温速率升温的导热的液体介质中的一定尺寸的矩形树脂试样施以规定负荷(1.81N/mm2或0.45N/mm2)，试样中点的变形量达到与试样高度相对应的规定值时的温度。 发表于：2011/7/11 PCB电路板测试仪功能原理及应用特征 测试仪采用电路在线测试技术，可以用来在线或离线测试分析各种中小规模集成电路芯片的常见故障，测试模拟、数字器件的V/I特性。 发表于：2011/7/8 Multitest的Dura Kelvin显著降低总测试成本 面向世界各地的集成设备制造商（IDM）和最终测试分包商，设计和制造测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司，日前欣然宣布其DuraKelvin测试座再次证明在超长的使用寿命和清洗周期方面名不虚传。 发表于：2011/7/8 过采样技术原理介绍 过采样技术原理介绍 发表于：2011/7/8 测量并校准产品的温度失调 摘要：本应用笔记介绍了在测量芯片外部温度的情况下，优化MAX1358/MAX1359/MAX1360数据采集系统温度读数精度的解决方案。 发表于：2011/7/8 新型模块化车载电子功能测试系统将效率提升20% 前不久，安捷伦（Agilent）公司参加了“第八届PXI技术和应用论坛”大会。并展示了诸多安捷伦全新的模块化系列产品。其中最引人注目的测试产品，是安捷伦最新推出的新型模块化车载电子功能测试系统。 发表于：2011/7/8 使用美国国家仪器公司软件和SeaSolve 公司软件联合共同对ZigBee无线通信进行测试 相比于之前使用PXI 射频向量信号分析仪来测量设备，使用ZigBee测量套件有助于您更快地测试ZigBee无线通信硬件设备 发表于：2011/7/7 <…440441442443444445446447448449…>
