基于BIFs方法的量子目标检测AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于BIFs方法的量子目标检测
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：1376 K

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文档介绍：检测和跟踪附着在神经元表面的量子的活动信息对于全面理解神经系统的工作机制具有重要意义。使用BIFs方法提取图像中的量子目标，并通过优化BIFs参数配置和融合高斯滤波预处理提高算法性能。实验结果表明该方法对强杂波干扰下的量子目标具有较高的检测率。
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