设计应用 基于PLC控制系统平稳长周期运行的可行性技术保障[其他][工业自动化] 180万吨/年ARGG三机组和气压机组控制系统是TRICONEX公司的TS3000控制系统和GE公司的90-70系列PLC系统，如TRICON系统见1所示。投用3年后陆续出现烧卡现象，如TRICON系统更换主处理器MP和各I/O卡件已有18块之多，EDS系统已更换CPU、BIU、I/O卡件等达12块（详见表1），造成了一定的经济损失并严重地威胁装置的安全生产。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 华北工控NORCO-840在污水处理系统中的应用[其他][工业自动化] 随着工业及城市的快速发展，污水排放导致的环境污染日益严重，水资源保护与污水处理成为各级政府的一项艰巨任务。华北工控与西安某公司积极推动污水处理技术的发展，利用高科技实施污水处理，把复杂的监控环境发展成为无人值守的简单监控模式，积极推动城市的可持续发展，保持环境的美化与治理。方案介绍本系统采用目前国内外污水处理厂广泛应用并已取得良好效果的控制、监控和数据采集系统。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 使用电池的CPLD自供电系统[电源技术][其他] 有一种常见的工业和消费应用，即按一个长间隔（如每分钟一次）对环境条件，如GPS（全球定位系统）位置、电压、温度或光线进行采样的系统。这类系统正越来越多地采用无线和电池供电方式，它每分钟苏醒过来，作一次采样，将数据传输到一个中央数据采集终端，然后再次进入睡眠状态。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 基于ARM控制器的渗炭炉温度控制系统的设计[模拟设计][其他] 本课题为辽宁省阜新市阜煤集团热处理分厂的多个温控炉改造项目中的一部分。将本控制系统安装在渗碳炉上，在各种工况下对试件进行渗碳，通过渗碳结果分析，表明完全满足改造要求。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 基于LabVIEW的相关滤波器的设计 [测试测量][其他] 在目前的测试领域中，越来越广泛地利用相关检测的方法进行滤波。利用相关滤波可以方便地从复杂的待测信号(包括有用信号、直流偏置、随机噪声和谐波频率成分等)中分离出某一特定频率的信号。在数字技术迅速发展以后，相关滤波也经常利用A/D板对信号采样后，在计算机中实现，成为数字滤波的一种形式。本文设计了一种实现相关滤波的方法，这是相关分析在测试技术中的一个典型应用。图l所示为相关滤波器的典型框图。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 面向对称体系结构的FPGA仿真模型研究[EDA与制造][其他] 本文提出了面向对称多核体系结构的FPGA仿真模型，以及基于该模型的多核／众核、SIMD体系结构的执行模式。相对于软硬件联合仿真方法，该仿真模型减少了软硬件协同逻辑并避免了设计复杂的软件划分算法。实验结果表明，面向对称多核体系结构的FPGA仿真模型能有效地减少仿真系统FPGA资源的需求，增大FPGA的仿真规模，并且其带来的仿真时间增量是可接受的。但该仿真模型主要是面向对称体系结构，而不适用于异构多核系统等非对称结构。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 基于AT89S52和K9F6408UOA的语音数字系统设计[其他][消费电子] 在研究传统语音录放电路的基础上，提出了一种基于AT89S52的音频信号采集、存储与处理系统。该系统以单片机AT89S52为控制器，采用键盘和LCD作为人机界面，ADC0809采集音频信号，扩展8MB闪速存储器K9F6408UOA作为数字化音频信号的存储器，通过软件滤波滤除噪音；采用PWM产生声音的原理，使存储在Flash中的音频数据控制PWM每个波形的占空比，通过低通滤波器将声音从PWM的脉冲中分离，并驱动扬声器。实验表明：8kHz采样频率和8位采样位数可获得清晰的语音以及较好的音乐声，语音存储时间达15min。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 从高频率到低频率IBIS无处不在[EDA与制造][其他] IBIS使得SPICE仿真选项显得不那么重要，因为仿真时间大大缩短，并且拥有同样的准确度。我所说的IBIS仿真时间更短，是相对于一个大型PCB系统需要数天或数周时间来完成一次晶体管级SPICE仿真而言的，其执行一次IBIS仿真只需数分钟或几小时的时间。通过一次IBIS仿真，您可以生成许多传输线响应和眼图。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 亮度稳定的调光台灯工作原理及制作[显示光电][其他] 工作原理：电路如图1。由R2、RP1和C1组成的阻容移相电路决定可控硅的导通角。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 天线测试方法选择及评估[模拟设计][其他] 随着对频率低至100MHz的天线测量的兴趣与日俱增，天线测试工程师理解各种天线测试方法(如锥形微波暗室)的优势和局限的重要性就愈加突出。在测试天线时，天线测试工程师通常需测量许多参数，如辐射方向图、增益、阻抗或极化特性。用于测试天线方向图的技术之一是远场测试，使用这种技术时待测天线(AUT)安装在发射天线的远场范围内。其它技术包括近场和反射面测试。选用哪种天线测试场取决于待测的天线。 发表于：2011/1/7 上午12:00:00 <…3860386138623863386438653866386738683869…>
