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9.2开放日 | 您有一封来自NI Open Lab的邀请函

2020-08-27
来源:半导体行业观察
关键词: NIOpenLab 上海 NXP

  足不出户吸收干货or现场体验动手实操?

  这次OpenLab Day的参与姿势由你来定

  继第一期的火热与意犹未尽之后,NI OpenLab第二期活动将于8月26日和大家见面啦!这期OpenLab Day中,NI和孤波专家携Cypress、NXP精彩应用案例,还有桌面式ATE级数字Pattern仪器动手实践课程来到NI直播间。

  在这个炎炎夏日,你除了可以选择足不出户在线上与技术专家们远程交流,更可以选择来到NI上海办公室现场参与OpenLab Day,顺便还可以参观Open Lab哦!赶快扫码报名选择你的参与姿势吧!

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  注:现场参与地点为NI上海办公室,坐标张江高科技园区内,由于场地限制,线下参与名额还请以报名确认信为准哦!

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  活动时间

  9月2日 14:00 ~ 16:15

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  日程安排

  14:00 ~ 15:00  SoC和MCU数字接口验证及Cypress、NXP案例分析

  15:00 ~ 16:00  桌面式ATE级数字Pattern仪器验证动手实践

  16:00 ~ 16:15  技术答疑及抽奖

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  精彩内容抢先看

  Topic 1: SoC和MCU数字接口验证及Cypress、NXP案例分析

  NI & 孤波

  概述:随着芯片应用场景的多变,更多设计公司采用集成IP的方式进行功能整合,这样更好地利用成熟IP,如电源管理、ADC、数字接口等,这样可大幅缩短芯片设计周期,新品上市时间也将大幅提前,产品形态也将更加的多样。但是如何在流片后的早期样片上发现漏洞并地进行特性分析,如何使用更加高效的方法进行验证。本次直播活动,NI携手合作伙伴为各位现场解析案例,看看NI及合作伙伴是如何帮助SoC及MCU企业进行高效post-silicon验证的。

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  Topic 2: 桌面式ATE级数字Pattern仪器验证动手实践

  NI

  概述: 在实验室验证阶段使用大型的ATE进行Shmoo、时序的验证并不是一个成本最优的方案,而使用传统的测试测量仪器又无法很好提供相对应的功能,NI基于这一需求所设计的基于向量的数字Pattern仪器将使用紧凑型的PXI结构,在实验室的环境中即可满足传统ATE的向量调试和Debug,Scan Pattern调试等工作;同时搭配模拟和接口PXI仪器,实现针对接口的功能级、系统级的验证工作。

  想具体了解PXI数字 Pattern 仪器的强大功能么?在我们这一期OpenLab Day,资深应用工程师会为大家进行现场动手实践与分享哦。

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  分享嘉宾

  王孜

  上海孤波科技有限公司资深应用工程师

  王孜在RF原型开发与自动化测试领域有丰富经验,2019年加入上海孤波科技有限公司,目前主要负责实验室自动化测试的标准化与推广工作。

  白爽

  NI 半导体测试应用工程师

  大客户支持工程师,分选机通讯专家,熟悉半导体产线测试开发及维护,致力于半导体模块化测试解决方案的研究。

  足不出户吸收干货or现场体验动手实操?

  赶快选择你喜欢的参与形式报名参加活动吧!

  注:现场参与地点为NI上海办公室,坐标张江高科技园区内,由于场地限制,线下参与名额还请以报名确认信为准哦!

  

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