| 一种电子标签的加速寿命试验可靠性预测方法研究 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：wwei | |
| 文档大小：3747 K | |
| 标签： 寿命加速 激活能 性能退化 | |
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| 文档介绍：随着微电子元器件设计能力和工艺技术的不断发展，器件的可靠性和寿命不断增加。射频识别电子标签具有需求量大、应用范围广、地域（使用温度）跨度大等特点，这就对产品本身的可靠性提出了较高的要求，研究器件在高低温下的退化特性具有重要的现实意义。基于Arrhenius理论提出了一种快速计算电子标签激活能的方法，对电子标签进行短时间的寿命加速试验，通过标签电场强度性能的退化数据预测寿命情况，快速求解电子标签的激活能，进而计算出不同温度条件下的加速因子，为电子标签在不同寿命评价标准下的加速试验时间提供理论依据。 | |
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