基于RVM的可重用性SoC测试平台设计AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于RVM的可重用性SoC测试平台设计
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：2057 K

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文档介绍：简要介绍了一种基于事务的用于SoC系统芯片验证的RVM验证方法学，以及应用该方法学搭建的具有分层结构的测试平台，该测试平台具有良好的可重用性。为了对该方法进行示范，验证了TD-SCDMA手机芯片中的I2C模块的RTL级实现，并给出了相应的测试平台模型及其在系统级上的重用。
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