| NIDays 2012再掀测试测量领域新浪潮 | |
| 所属分类：其他 | |
| 上传者：aet | |
| 文档大小：150 K | |
| 标签： 前沿报道 | |
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| 文档介绍：2012年11月16日， 由美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)举办的一年一度的“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站在北京万达索菲特大饭店圆满落幕。本届NIDays吸引了近千名来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体到会，通过精心挑选的技术讲座、最新的产品与创新应用展示、精彩的互动交流等环节，向工程师们传达了最新前沿技术信息以及NI在测试测量、控制和设计领域的应用革新。 | |
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