dft 相关文章(14篇)
-
西门子发布 Tessent RTL Pro 强化可测试性设计能力
发表于：2023/10/20 下午5:21:00
-
基于FCM flow的小规模数字电路芯片测试
发表于：2023/8/25 下午2:51:00
-
MENTOR GRAPHICS TESSENT DEFECTSIM 荣获《电子产品》2016 年度产品奖
发表于：2017/2/7 下午8:54:00
-
循环卷积DFT的优化算法与仿真
发表于：2016/5/22 下午9:33:00
-
Mentor Graphics 发布 Veloce Apps 开启硬件仿真新纪元
发表于：2016/2/26 下午7:33:00
-
全新Cadence Modus测试解决方案最高可将系统级芯片测试时间缩短三倍
发表于：2016/2/23 下午10:30:00
-
一种片上系统复位电路的设计
发表于：2013/1/17 下午4:35:00
-
LTE上行DFT/IDFT的一种设计实现
发表于：2011/10/8 下午3:17:24
-
一款雷达芯片的基于扫描路径法可测性设计
发表于：2011/3/2 上午12:00:00
-
综合仪器方法解决棘手的系统级测试
发表于：2011/1/7 上午12:00:00
-
提高DFT设计测试覆盖率的一种有效方法
发表于：2010/12/20 上午12:00:00
-
SOC中多片嵌入式SRAM的DFT实现方法
发表于：2010/10/1 下午10:48:17
-
基于OFDM的无线移动通信
发表于：2010/6/13 上午12:00:00
-
利用AD5933的高精度生物阻抗测量方案
发表于：2010/3/11 上午12:00:00
Copyright © 2005-2024 华北计算机系统工程研究所版权所有 京ICP备10017138号-2