新一代测试系统" title="PXI无线测试系统" target="_blank">PXI无线测试系统(WTS)大幅推升行动、物联网装置产测效率。国家仪器(NI)发表支援多重标准、多样待测装置(DUT)/连接埠及高速平行测试的PXI无线测试系统，能满足行动及物联网设备制造商降低测试成本、提高生产效率的要求，包括高通创锐讯(Qualcomm Atheros)、博通(Broadcom)皆已将该系统列入其产测工具组建议清单。

　　NI行动装置业务部门副总裁David Loadman表示，行动、物联网设备采行的无线射频(RF)标准日益多元、感测器和连接埠型态也不断翻新，导致产线端测试复杂度与日俱增；因此，近来有愈来愈多原始设计制造商(ODM)、原始设备制造商(OEM)开始扩大导入PXI模组化测试仪器，盼发挥其可灵活扩充硬体性能，并能以可编程软体即时调整测试需求的优势，确实降低产测成本及加倍生产效率。

　　看准市场对PXI模组化仪器的需求成长潜力，NI近期加码推出专门针对产线量测速度与平行测试而优化的PXI无线测试系统--WTS。该产品结合PXI硬体最新功能与技术，可透过单一平台满足多重无线标准、DUT形式与多元连接埠测试需求；同时还可搭配灵活的测试序列软体如TestStand Wireless Test Module，显着提升平行测试多个装置的效率。

　　Loadman透露，NI已与高通创锐讯(Qualcomm Atheros)、博通(Broadcom)建立紧密的合作关系，这两家全球数一数二的IC设计大厂更已将NI PXI模组化测试仪、WTS、LabVIEW软体和自动化控制程式列入其产测工具组建议清单；在强强联合之下，NI将能提供更贴近产线需求的量测方案，克服日益复杂的无线标准测试挑战。现阶段，该公司亦紧锣密鼓与台湾、中国大陆主要晶片商洽谈合作，以持续拓展ODM、OEM客户群。

　　据悉，WTS内建PXI向量讯号收发器(VST)技术，可针对制造测试环境提供优异的RF效能，并随着千变万化的RF测试需求而扩充。WTS亦支援LTE Advanced、802.11ac和蓝牙低功耗(Bluetooth Low Energy)等多重标准，因此广泛适用于无线区域网路(WLAN)存取点、行动装置，以及穿戴式电子、车载资讯娱乐(IVI)系统，或其他纳入行动、无线连接与导航标准的物联网设备制造测试作业。