| 一种低成本VPX背板总线测试设备 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：aetmagazine | |
| 文档大小：631 K | |
| 标签： VPX背板 高速串行总线 信号完整性 | |
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| 文档介绍：分析了常见高速串行总线测试方案的优缺点，针对VPX高速背板结构和信号定义特征，提出了一种低成本的VPX背板高速串行总线的测试方法。该方法以FPGA为运算核心，通过巧妙的结构设计和高速串行电路设计，实现了单次同时测试最多16对高速收发通道，且可进行高速串行总线从物理层、链路层到协议层的信号误码率测试和眼图测试，每通道测试速率可大于10 Gb/s。 | |
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