首页
新闻
业界动态
新品快递
高端访谈
AET原创
市场分析
图说新闻
会展
专题
期刊动态
设计资源
设计应用
解决方案
电路图
技术专栏
资源下载
PCB技术中心
在线工具库
技术频道
模拟设计
嵌入式技术
电源技术
可编程逻辑
测试测量
通信与网络
行业频道
工业自动化
物联网
通信网络
5G
数据中心
信息安全
汽车电子
大学堂
期刊
文献检索
期刊投稿
登录
注册
首页
资源下载
其他
正文
进入订阅《网络安全与数据治理》杂志
欢迎查看AET双碳专题
2025年数据要素治理学术研讨会
点击进入忆阻器测试专题
代码审查缺陷密度量化模型研究
所属分类:
技术论文
上传者:
aetmagazine
文档大小:
647 K
标签:
代码审查
代码审查平台
缺陷密度
所需积分:0分
积分不够怎么办?
文档介绍:
为通过代码审查活动达到对软件产品质量提升的作用,给出了代码审查平台搭建方案,并据此平台策划开展了多个工程的代码审查活动。利用首轮采集的数据,初步分析确立了代码审查缺陷密度模型和影响因子,计算得到了代码审查缺陷密度的基线目标值。该模型可以供研发团队和研发团队所属组织策划确定代码审查基线,并策划开展后续代码审查活动。
现在下载
VIP会员,AET专家下载不扣分;重复下载不扣分,本人上传资源不扣分。
活动
MORE
《集成电路应用》杂志征稿启事
【热门活动】2025年基础电子测试测量方案培训
【技术沙龙】可信数据空间构建“安全合规的数据高速公路”
【下载】5G及更多无线技术应用实战案例
【通知】2025第三届电子系统工程大会调整时间的通知
Copyright © 2005-
2024
华北计算机系统工程研究所版权所有
京ICP备10017138号-2