USB3.0 一致性自动化测试方案AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

USB3.0 一致性自动化测试方案
所属分类：解决方案
上传者：serena
文档大小：239 K
标签：接口IC
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文档介绍：Tektronix 的TekExpress (TEKEXP) 是基于WindowsXP*1 平台的自动化测试软件。TekExpress 的USB-TX 选件提供了对 USB3.0 的主机和设备的Tx 端的自动的、简单、高效的测试方案，该方案符合SuperSpeed USB 电气一致性测试规范0.5 版本。
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