基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪的设计AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于DSP和FPGA的开环多码型误码测试仪的设计
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：335 K
标签： DSP
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文档介绍：实现了一种基于DSP和FPGA 的开环多码型误码测试仪，并能达到要求的 10^-3≤ρ≤10^-10检测灵敏度。伪随机码生成器用于生成由ITU推荐的用于误码测试的伪随机序列。误码测试仪可以进行开环测试，拥有五种测试码型可以选择，而且实现了盲检测，测试的方法灵活，可测试的设备广泛，扩展性较好。
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