基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于IEEE1149.7标准的CJTAG测试设计方法研究
所属分类：技术论文
上传者：aet
文档大小：478 K
标签： CJTAG 测试控制器边界扫描
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文档介绍：在深入研究IEEE1149.7标准的基础上，针对测试问题设计了CJTAG测试控制器，实现了T0、T1、T3和T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行了仿真验证。结果表明该控制器产生的测试信号符合IEEE1149.7标准的规定，能够控制待测芯片实现相应的测试功能，取得了较好的测试效果。
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