基于MEMS与单片机的西瓜成熟度无损检测系统的研究AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于MEMS与单片机的西瓜成熟度无损检测系统的研究
所属分类：技术论文
上传者：serena
标签： MEMS 单片机
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文档介绍：通过对西瓜的力学和物理特性的分析,设计一套以凌阳十六位单片机为控制核心,以MEMS(微机电系统)加速度传感器为检测工具,以FFT(快速傅里叶变换)为信号分析和计算方法的西瓜成熟度快速检测装置.检测过程中,利用对西瓜的敲击产生的振动频率响应,来准确判断西瓜的成熟程度.检测结果将显示在液晶显示器上,包括振动波形,振动频率和成熟度指数,并且进行成熟度等级分类.
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