| 集成电路卡数据完整性保护机制快速检测方法 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：wwei | |
| 文档大小：3639 K | |
| 标签： 集成电路 数据完整性 数据恢复 | |
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| 文档介绍：介绍了集成电路（Integrated Circuit，IC）卡数据完整性保护机制检测方法，针对传统单指令断电检测手段的局限性和不足提出二次断电理论，用于检测验证IC卡在执行数据恢复过程中出现中断的事务保护机制。采用时间统计法和功耗统计法两种改进方案，计算断电测试有效时间区域，解决二次断电检测效率低下问题。最后通过实验结果验证数据完整性保护机制快速检测方法的有效性。 | |
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