| 芯片测试数据价值挖掘技术：现状回顾与未来展望 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：wwei | |
| 文档大小：12381 K | |
| 标签： 芯片测试 数据挖掘 大数据分析 | |
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| 文档介绍：随着芯片复杂度与集成度的不断提升，测试数据已成为驱动芯片良率优化与全生命周期管理的关键资产。然而，在当前的行业实践中，仍面临着数据噪声干扰、特征关联不明确以及跨域协同效率低下等挑战。该研究聚焦芯片测试数据的高价值挖掘问题，系统梳理了芯片测试数据挖掘的技术体系与发展现状，构建了一条数据驱动的“数据采集—分析洞见—决策反馈”价值链条，推动了数据分析由传统统计方法向智能化诊断与决策的转变，为构建测试数据分析体系和提升芯片产品综合竞争力提供了理论参考与实践指南。 关键词：芯片测试；数据挖掘；大数据分析；半导体制造 | |
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