| 中央处理器安全测试与自修复技术研究 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：aetmagazine | |
| 文档大小：635 K | |
| 标签： 中央处理器 故障注入 安全测试 | |
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| 文档介绍：中央处理器在工业控制领域起到重要作用，其正常工作是工业控制中的重要稳定运行保障。主要研究中央处理器的安全测试与自修复相关技术。从故障注入到故障测试再到自修复，对相关安全技术作了比较介绍与分类总结，包括硬软件的故障注入技术、扫描链、内建自测试、TSV等故障测试方法，以及以替代修复和容错自修复技术。最后提出中央处理器安全协同模型，对各个技术的基本原理和创新点做出归纳总结，为未来中央处理器的故障处理技术发展提供安全设计全参考，在保证安全和性能的同时降低成本和能耗，助力工控设备安全稳定运行。 | |
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