基于芯粒的Flash FPGA驱动测试技术AET-电子技术应用-最丰富的电子设计资源平台

基于芯粒的Flash FPGA驱动测试技术
所属分类：技术论文
上传者：wwei
文档大小：3829 K
标签：芯粒现场可编程门阵列主控寄存器
所需积分：0分积分不够怎么办？
文档介绍：针对基于芯粒的Flash FPGA驱动覆盖率测试，利用Flash FPGA的系统控制寄存器与边界扫描寄存器模块，配置FPGA不同的驱动模式，并通过传统的单芯片Flash单元配置进行对比验证。实验结果表明，基于芯粒的Flash FPGA控制寄存器配置的驱动性能与传统的单芯片Flash单元配置一致，测试时间缩短到1/3。
现在下载
VIP会员，AET专家下载不扣分；重复下载不扣分，本人上传资源不扣分。

活动