| 基于ST2516测试机的CD4511芯片性能测试 | |
| 所属分类：技术论文 | |
| 上传者：wwei | |
| 文档大小：2646 K | |
| 标签： ST2516测试机 CD4511 芯片测试 | |
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| 文档介绍：该研究基于国内第一台250 Mbit/s国产半导体测试机ST2516对CD4511芯片的性能进行测试。从硬件电路的搭建、开短路测试、漏电流测试、输出电压测试、功能测试等几个方面详细阐述了芯片测试的基本原理和程序编写。测试结果表明，芯片的性能参数均在合理的阈值范围内，为同类型芯片测试提供了参考，对完善集成电路测试人才实践培养体系、缓解行业人才缺口具有积极意义。 | |
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